Дубовой, В. М.
Моделирование оптоэлектронного измерительного канала в условиях неопределенности [Text] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! !oizd.pft: FILE NOT FOUND! !ospec.pft: FILE NOT FOUND! !oistaspk_H.pft: FILE NOT FOUND!

Рубрикатор НБУВ:
Тематичні рубрики:


Шифр журнала:

Кл.слова (ненормированные):
оптоэлектронный измерительный канал -- статистическая неопределенность -- нечеткая неопределенность -- обобщающая моментная функция -- прогнозирование -- метрологические характеристики
Анотація: Отмечено, что для применения оптоэлектронных измерительных каналов необходимо моделировать и прогнозировать их метрологические характеристики в условиях неопределенности исходных данных. Предлагаемый метод основан на использовании обобщающих моментных функций для описания параметров со статистической или нечеткой неопределенностью. Метод использует операторный подход для моделирования преобразований неточно заданных данных. !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND!
Видання зберігається у :