|
|
Олиховская, Л. А.
Определение характеристик ансамбля планарных дефектов в монокристаллах системы Bi - Sr - Ca - Cu - O по дифракционным данным. 1. Хаотичное распределение дефектов [Text] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! !oizd.pft: FILE NOT FOUND! !ospec.pft: FILE NOT FOUND! !oistaspk_H.pft: FILE NOT FOUND! Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Шифр журнала:
Кл.слова (ненормированные):
метод Какиноки - Комуры -- планарные дефекты -- дифракционные пики
Анотація: За методом Какінокі - Комури змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з номінальним складом <$E roman {Bi sub 2 Sr sub 2 Ca} sub m-1 {roman Cu} sub m {roman O} sub {4+2m+ delta}> (<$E m> = 1, 2, 3), що містять структурні фрагменти (планарні дефекти), укладка атомних шарів в яких відрізняється від укладки в базовій структурі. Показано значний вплив на інтенсивності та положення дифракційних піків не тільки типу і концентрації планарних дефектів, але й співвідношення <$E c"/"l sub d> між параметром c гратки базової структури та розміром <$E l sub d> дефектів уздовж цієї осі. Встановлено наявність дифракційних піків, взаємне розташування яких за змін концентрацій планарних дефектів не залежить від значення <$E c"/"l sub d>. На цій базі запропоновано метод визначення концентрації планарних дефектів у таких кристалах за невідомих значень c і <$E l sub d>. !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND!
Дод. точки доступу:
Устинов, А. И.; Федорова, О. В.
Видання зберігається у :
|
|