|
|
Моисеева, Г. А.
Анализ возможности управления комплексным коэффициентом отражения многослойной структуры, содержащей полупроводники, в миллиметровом диапазоне длин волн [Text] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! !oizd.pft: FILE NOT FOUND! !ospec.pft: FILE NOT FOUND! !oistaspk_H.pft: FILE NOT FOUND! Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Шифр журнала:
Кл.слова (ненормированные):
многослойная структура -- полупроводниковый слой
Анотація: Проведен анализ многослойной структуры, содержащей один или несколько полупроводниковых слоев. Получены основные математические соотношения, позволяющие предъявить требования к основным параметрам многослойных структур, обеспечивающим управление их отражательными характеристиками. !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND!
Видання зберігається у :
|
|