|
|
Kavetskyy, T.
On the origin of nanovoids in binary chalcogenide glasses studied by FSDP-related XRD, PALS and Monte-Carlo simulation [Text] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! !oizd.pft: FILE NOT FOUND! !ospec.pft: FILE NOT FOUND! !oistaspk_H.pft: FILE NOT FOUND!
Переклад назви: Вивчення природи нанопустот у бінарних халькогенідних стеклах методами рентгенівської дифракції із застосуванням до першого різкого дифракційного піку позитронної анігіляції та Монте-Карло моделюванняРубрикатор НБУВ:
Шифр журнала:
Анотація: Уперше проаналізовано природу нанопустот у типових бінарних стеклах AsV2DSeV3D і AsV2DSV3D із використанням комбінації методів рентгенівської дифракції із застосуванням до першого різкого дифракційного піку позитронної анігіляції та Монте-Карло моделювання. Визначено добру узгоджуваність між одержаними експериментальними та теоретичними результатами. Припущено, що запропонований підхід до характеризації нанорозмірної атомно-дефіцитної структури в досліджуваних бінарних стеклах також можна використовувати для потрійних сіткових стекол на основі AsV2DS(Se)V3D підсистем. !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND!
Дод. точки доступу:
Shpotyuk, O. ; Boyko, V. ; Filipecki, J. ; Popescu, M.
Видання зберігається у :
|
|