|
|
Бобицький, Я.
Порівняльний аналіз оптичних методів вимірювання розмірів мікрочастинок [Text] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! !oizd.pft: FILE NOT FOUND! !ospec.pft: FILE NOT FOUND! !oistaspk_H.pft: FILE NOT FOUND! Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Шифр журнала:
Анотація: Зазначено, що зважаючи на бурхливий розвиток нанотехнології у різних галузях промисловості та на те, що від розміру частинки значною мірою залежать основні фізичні властивості матеріалу, сьогодні існує потреба у точному, швидкому та неруйнівному методі вимірювання розмірів частинок. Саме оптичні методи вимірювання відповідають усім цим вимогам. Надано порівняльний аналіз основних оптичних методів, визначення їх переваг та недоліків і можливостей застосування у різноманітних системах мікро- та наночастинок. !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND!
Дод. точки доступу:
Клімкевич, Р.
Видання зберігається у :
|
|