|
|
Shikimaka, O.
Effect of prolonged holding under contact loading on the peculiarities of phase changes in silicon [] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! !oizd.pft: FILE NOT FOUND! !ospec.pft: FILE NOT FOUND! !oistaspk_H.pft: FILE NOT FOUND! Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Шифр журнала:
Кл.слова (ненормированные):
indentation -- silicon -- phase transformation -- amorphous phase -- unloading events -- creep -- holding time
Анотація: Досліджено вплив тривалої витримки під час індентування на особливості фазових перетворень і деформації кремнію Si (100). Показано, що тривала витримка за максимального навантаження призводить до повзучості матеріалу навіть за кімнатної температури завдяки фазовому перетворенню на пластичнішу металеву <$E beta>-Sn фазу. Кінцеві структурні фази в зоні відбитка, виявлені за допомогою мікро-Рамановської спектроскопії, вказують на інтенсифікацію утворення аморфної фази (a-Si) зі зростанням часу витримки. Передбачається, що причина цієї додаткової аморфізації може мати дислокаційну природу, як результат зростання щільності дислокацій під час повзучості та перебудови дислокаційної структури під час розвантаження. Цей факт вносить деякі зміни до кінетики розвантажувальних явищ, які демонструють тенденцію до утворення "kink pop-out" замість типових "pop-out" і "elbow". !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND!
Дод. точки доступу:
Prisacaru, A.; Burlacu, A.
|
|