|
|
ВА697932
Швець, Є. Я. Запоріз. держ. інж. акад.
Діагностика, контроль та випробування напівпровідникових приладів [Text] !Otitkn.pft: FILE NOT FOUND! !oizd.pft: FILE NOT FOUND! !ospec.pft: FILE NOT FOUND! !ovixd.pft: FILE NOT FOUND! !ofizxar_H.pft: FILE NOT FOUND! !Oprim_H.pft: FILE NOT FOUND! !Oisbncnk_H.pft: FILE NOT FOUND! !oant_H.pft: FILE NOT FOUND! !opri451_H.pft: FILE NOT FOUND! !Opris488_H.pft: FILE NOT FOUND! Рубрикатор НБУВ:
Анотація: Розглянуто проблеми якості та надійності напівпровідникових приладів і інтегральних мікросхем (ІМС). Описано автоматизовані методи та засоби контролю їх параметрів. Наведено інформацію про механізми раптових відмов діодів і біполярних транзисторів, металографічний аналіз, рентгенівську дефектоскопію, мас-спектрометричний контроль, вакуум-рідинний і компресійно-термічний методи контролю ІМС.
Рассмотрены проблемы качества и надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (ИМС). Описаны автоматизированные методы и средства контроля их параметров. Приведена информация о механизмах внезапных отказов диодов и биполярных транзисторов, металлографическом анализе, рентгеновской дефектоскопии, масс-спектрометрическом контроле, вакуум-жидкостном и компрессионно-термическом методах контроля ИМС. !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND!
Дод. точки доступу:
Небеснюк, О. Ю.; Ніконова, З. А.; Ніконова, А. О.
Видання зберігається у :
|
|