Досліджено вплив планарних дефектів великої густини на дифракційну картину полікристалів з ГЦК-граткою. За результатами моделювання порошкових дифрактограм встановлено кореляцію між дифракційними ефектами та параметрами дефектної структури ГЦК кристалів, а саме, типом і густиною планарних дефектів. Доведено, що раніш розвинуті методи визначення кількісних характеристик дефектів потребують суттєвого коригування. Розроблено метод повнопрофільного аналізу порошкових дифрактограм у випадку одномірного розвпорядкування ГЦК кристалів планарними дефектами. Визначено параметри мікроструктури (середній розмір кристалів, густина двійникових меж, густина дислокацій) нанокристалічних порошків міді, одержаних механічним подрібненням у кульовому млині планетарного типу. Встановлено кореляцію між параметрами мікроструктури та характеристиками механо-активаційного процесу.

  Завантажити