Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В372.15,022$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 13
Представлено документи з 1 до 13
|
1. | ІС14987 Eggert, Dennis. Application of nanoparticles in correlative super-resolution light and electron microscopy [Text] : diss. / Dennis Eggert ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2014. - 131 l. : fig. - Бібліогр.: арк. 106-112Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Universität Hamburg (Hamburg). Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 2. | ДС62397 Боркач, Євген Ілліч. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 148 л. - л. 130-148Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Ужгородський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 3. | РА305401 Боркач, Євген Ілліч. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 16 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Ужгородський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 4. | ДС100329 Марченко, Александр Анатольевич. Сканирующая туннельная микроскопия органических молекул на интерфейсе жидкость-твердое тело [Text] : дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2007. - 368 л. - Библиогр.: л. 342-368Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины; Институт физики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 5. | ДС53469 Марченко, Александр Анатольевич. Сканирующая туннельная микроскопия тонких пленок длинноцепочечных алифатических соединений [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1997. - 144 л.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины (Киев); Институт физики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 6. | РА351267 Марченко, Олександр Анатолійович. Сканувальна тунельна мікроскопія органічних молекул на інтерфейсі рідина-тверде тіло [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Олександр Анатолійович ; Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України. - К., 2007. - 33 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 7. | РА302214 Прядкін, Сергій Леонідович. Використання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл- провідників [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкін Сергій Леонідович ; НАН України, Ін-т металофізики ім. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 18 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут металофізики імені Г. В. Курдюмова (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 8. | ДС59015 Прядкин, Сергей Леонидович. Применение сканирующей туннельной микроскопии для изучения структуры поверхности проводящих твердых тел [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкин Сергей Леонидович ; НАН Украины, Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 91 л. - Библиогр.: л. 88-91.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины; Институт металлофизики имени Г. В. Курдюмова (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 9. | РА362037 Сліпченко, Микола Іванович. Фізичні основи ближньопольової НВЧ діагностики матеріалів і середовищ [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Сліпченко Микола Іванович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 2008. - 36 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Сумський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 10. | ДС109378 Слипченко, Николай Иванович. Физические основы ближнеполевой СВЧ диагностики материалов и сред [Текст] : дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / Слипченко Николай Иванович ; Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. - Х., 2008. - 351 л. : рис. - Библиогр.: л. 323-351Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Харьковский национальный университет радиоэлектроники
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 11. | ДС122867 Черепанов, Всеволод Владимирович. Исследования сверхтонких органических плёнок методами зондовой микроскопии [Текст] : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Владимирович ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2010. - 167 л. : рис. - Бібліогр.: арк. 144-167.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 12. | РА377684 Черепанов, Всеволод Володимирович. Дослідження надтонких органічних плівок методами зондової мікроскопії [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Володимирович ; Ін-т фізики НАН України. - К., 2010. - 24 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 13. | РА331442 Щеглов, Дмитрий Владимирович. Наноразмерная модификация поверхности полупроводников и металлов зондом атомно-силового микроскопа [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Щеглов Дмитрий Владимирович ; Ин-т физики полупроводников СО РАН. - Новосибирск, 2004. - 23 с.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников (Новосибирск)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|
|