Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В374.7<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 10
Представлено документи з 1 до 10
|
1. | Глушков В.М./ВА456 Немошкаленко, Владимир Владимирович. Теоретические основы рентгеновской эмиссионной спектроскопии [Текст] : [монография] / В. В. Немошкаленко, В. Г. Алешин ; Акад. наук УССР, Ин-т металлофизики. - К. : Наукова думка, 1974. - 376 с. : рис. - Бібліогр.: с. 363-374. - 2450 прим. З дарчим написом В. М. Глушкову.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Алешин, Валентин Григорьевич; Академия наук Украинской ССР (Киев)Институт металлофизики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 2. | ДС47553 Бережинский, Леонид Иосифович. Спектроскопия молекулярных ионов и элементарных носителей заряда в кристаллах [Текст] : дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.10 / Бережинский Леонид Иосифович ; АН Украины, Ин-т физики полупроводников. - К., 1994. - 219 л.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Академия наук Украины (Киев); Институт физики полупроводников (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 3. | РА312904 Буланий, Михайло Филимонович. Спектроскопія кристалів твердих сполук на основі сульфіду цинку [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Буланий Михайло Филимонович ; Дніпропетровський національний ун-т. - Д., 2001. - 34 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Дніпропетровський національний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 4. | ВА669582 Хомченко, Александр Васильевич. Волноводная спектроскопия тонких пленок. Основные принципы и техника эксперемента [Текст] / А. В. Хомченко. - Минск : Издательский центр БГУ, 2002. - 223 с.: рис., табл. - Библиогр.: с. 208-220. - ISBN 985-476-059-6Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 5. | Р96227 Акустическая спектроскопия микроскопического разрушения образца гранита Westerly [Текст] / А. В. Лебедев [и др.]. - Нижний Новгород : [б.и.], 2002. - 28 с.: рис. - (Препринт / РАН, Институт прикладной физики ; № 588). - Библиогр.: с.26-28.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Лебедев, Андрей Вадимович; Бредихин, Владимир Вадимович; Соустова, Ирина Анатольевна; Сутин, Александр Михайлович; Кусунозе, Кинихиро; РАН; Институт прикладной физики (НИжний Новгород)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 6. | ІВ202613 Gerson, Fabian. Electron spin resonance spectroscopy of organic radicals [Text] / F. Gerson, W. Huber. - Weinheim : Wiley-VCH, 2003. - XV, 464 p.: fig. - Бібліогр.: p.415-445. - ISBN 3-527-30275-1Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Huber, Walter
Видання зберігається у :
| 7. | ІВ204534 Scherer, Harald. NMR-spektroskopische Untersuchungen zur Strukturaufklärung von Fluororganoelement-Verbindungen [Text] : Diss. / H. Scherer ; Universität zu Köln. Math. -Naturwiss. Fak. - Köln : [б.в.], 2004. - 149 S.: Abb. - Бібліогр.: S.144-149Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Universität zu Köln. Math. -Naturwiss. Fak.
Видання зберігається у :
| 8. | ВА664880 Заворотнев, Ю. Д.. Нелинейные оптические эффекты в молекулярных кристаллах [Текст] / Ю. Д. Заворотнев, Л. Н. Овандер. - Донецк : Норд-Пресс, 2005. - 284 с. - Библиогр.: с. 267-284. - ISBN 966-380-005-4Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Овандер, Л. Н
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 9. | MFI5844/1-2 Haas, Simon. Crystal structure analysis and trap spectroscopy [Text] : diss. / S. Haas ; Swiss Federal Institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2006. - 186 p. - (ETH-Diss ; 16657) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal Institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
| 10. | ІВ211460 Nanocomposites [Text] : ionic conducting materials and structural spectroscopies / ed. P. Knauth, J. Schoonmann. - New York : Springer, 2008. - XIII, 276 p.: fig. - (Electronic materials : science and technology). - Бібліогр.: v kintsi st. - ISBN 978-0-387-33202-4Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Knauth, Philippe (ed.); Schoonmann, Joop (ed.)
Видання зберігається у :
|
|
|