Пошуковий запит: (<.>U=З844.1<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 73
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. | ІВ213706 Hinz, Jörn. Abscheidung und Characterisierung metallischer Gateelektroden für für zukünftige CMOS-Technologien [Text] : Diss. / Jörn Hinz ; Techn. Fak. der Friedrich-Alexander-Univ. Erlangen-Nürnberg. - Erlangen-Nürnberg : [s. n.], 2010. - VI, 129 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 121-129 Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg. Technischen Fakultät
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
2. | Глушков В. М./ІВ3 Sigorski, W. P. Analiza układów elektronicznych [Text] / W. P. Sigorski ; tł. dr. inż. Edmund Lipiński. - Warsawa : Wydawnictwa naukowo-techniczne, 1965. - 184 s. : rys. - Бібліогр.: с. 181-182. . - Пер. изд. : Анализ электронных схем / В. П. Сикорский. - К., 1963. - 3176 прим. З дарчим написомРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Lipiński, Edmund (tł.); Сикорский, В. П.
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
3. | ІВ213671 Seel, Nigel Business strategies for the next-generation network [Text] / Nigel Seel. - Boca Raton ; New York : Auerbach publications, Taylor & Francis group, 2007. - XIII, 298 p. : fig. - (Informa telecoms & media ; 4). - Бібліогр. в кінці глав. - ISBN 978-0-8493-8035-8 (alk. paper). - ISBN 0-8493-8035-9 (alk. paper)Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
4. | MFI5800/1-4 ETherton, Melanie. Charged device model (CDM) ESD in ICs [Text] : diss. / M. ETherton ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2006. - 235 p. - (ETH-Diss ; 16354) 4 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
5. | MFI4081/1-2 Koll, Andreas. CMOS capacitive chemical microsystems for volatile organic compounds [Text] : diss. / A. Koll ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 1999. - 169 p.: fig. - (Diss ETH ; 13460) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
6. | MFI5373/1-3 Rarrettino, Diego Ruben. CMOS readout and control architectures for monolithic hotplate and cantilever microsystems [Text] : diss. / D. R. Rarrettino ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2004. - 148 p.: fig. - (ETH Diss ; 15412) 3 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
7. | MFI3632/1-2 Haberli, Andreas Martin. Compensation and calibration of IC microsensors [Text] : diss. / A. M. Haberli ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 1997. - 146 p.: fig. - (Diss ETH ; 12090) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
8. | ІВ195300 Stratmann, Andreas. Elektronik mit niedrig sinternden Keramikfolien auf Dickschicht-Keramiken: Technologie, Eigenschaften, Einsatzmöglichkeiten [Text] : Diss. / A. Stratmann ; Ruhr-Universität Bochum. Fak. für Elektrotechnik und Informationstechnik. - Bochum : [б.в.], 1998. - IV, 142 S.: Fig. - (Schriftenreihe / Institut für Elektronik Ruhr-Universität Bochum ; H. Nr. 981/1). - Бібліогр.: S. 135-142.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Ruhr-Universität Bochum. Fak. für Elektrotechnik und Informationstechnik; Institut für Elektronik Ruhr-Universität Bochum
Видання зберігається у :
|
9. | ІВ219761 Future trends in microelectronics [Text] : the Nano, the Giga, and the Ultra / ed. by Serge Luryi, Jimmy Xu, Alex Zaslavsky. - New York : IEE ; Hoboken, New Jersey : Wiley-Interscience, 2004. - XIII, 408 p. : fig., tab. - Бібліогр. в кінці ст. - ISBN 0-471-48405-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Luryi, Serge (ред.); Xu, Jimmy (ред.); Zaslavsky, Alex (ред.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
10. | MFI3623/1-2 Meyer, Stefan. Innovationsmanagement in der Elektronikindustrie. Ansätze zur Verkürzung der Produktentstehungszeit beim Einsatz der Multichip-Modul-Technologie [Text] : Abh. / S. Meyer ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1997. - 182 S.:Fig. - (Diss ETH ; 12025) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
|
11. | MFI4111/1-2 Mayer, Michael. Microelectronic bonding process monitoring by integrated sensors [Text] : diss. / M. Mayer ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 109 p.: fig. - (Diss ETH ; 13685) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
12. | ІВ197694 Czarczyński, Wojciech. Mikroelektronika próżniowa [Text] / W. Czarczyński. - Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2000. - 166 s.: rys. - Бібліогр.: S.157-164. - ISBN 83-7085-443-5Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
|
13. | ІВ205781 Mescheder, Ulrich. Mikrosystemtechnik [Text] : Kozepte und Anwendungen / U. Mescheder. - 2., überarb. und ergänzte Aufl. - Stuttgart[etc.] : Teubner, 199. - 292 S.: Bild. - Бібліогр.: S.275-288. - ISBN 3-519-16256-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
|
14. | MFI4110/1-2 Taschini, Stefano. Modeling of slender structures in microsystems [Text] : diss. / S. Taschini ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 113 p.:fig. - (Diss ETH ; 13764) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
15. | ВА809683 Кизим, Микола Олександрович. NBIC-технології як ключовий фактор розвитку інформаційно-комунікаційних технологій і мікроелектроніки в країнах світу і Україні [Текст] : монографія / М. О. Кизим, І. Ю. Матюшенко. - Харків : ІНЖЕК, 2015. - 390 с. : табл. - Бібліогр.: с. 331-351 . - 300 прим. - ISBN 976-966-392-357-4Рубрикатор НБУВ: УДК: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Матюшенко, Ігор Юрійович
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
16. | MFI4359/1-3 Mergens, Markus Paul Josef. On-chip ESD protection in integrated circuits: device physics, modelling circuit simulation [Text] : diss. / M. P. Mergens ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2001. - 194 p.: fig. - (ETH-DISS ; 14185) 3 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
17. | MFI4094/1-2 Walti, Marc Claude. Packaging of CMOS IR microsystems [Text] : diss. / M. C. Walti ; Swiss Federal Institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 161 p.: fig. - (ETH-DISS ; 13646) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal Institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
18. | MFI5595/1-2 Song, Wan Ho. Packaging techniques for CMOS-based chemical and biochemical microsensors [Text] : diss. / W. H. Song ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2005. - 108 p. - (ETH-Diss ; 15987) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
19. | MFI4085/1-2 Doswald, Daniel. Realization of complex microsystems using custom microelectronics and standard components [Text] : diss. / D. Doswald ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 147 p.: fig. - (Diss ETH ; 13664) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
20. | MFI5673/1-4 Pesce, Mauro. Recursive demodulation schemes for the WCDMA downlink [Text] : diss. / M. Pesce ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2005. - 247 p.: fig. - (ETH-Diss ; 15939) 4 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
| |