Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Книжкові видання та компакт-диски - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (4)
Пошуковий запит: (<.>U=З852-082$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
1.
ВА624505
Фандеев, Владимир Петрович.
Технологии и средства анализа отказов восстанавливаемых электронных изделий приборостроения [Текст] / В. П. Фандеев. - Пенза : Издательство Пензенского государственного университета, 2001. - 237 с.: рис. - Библиогр.: с. 225-235

Рубрикатор НБУВ:
 З852-082.05 
 З844.1-082.05 
Тематичні рубрики:
 Напівпровідникові прилади 
 Мікрорадіоелектронна апаратура. Мікроелектроніка 


Видання зберігається у :
Основний фонд

2.
ВА693715
Пис, Роберт А..
Обнаружение неисправностей в аналоговых схемах [Текст] / Р. А. Пис ; пер. с англ. А. А. Кузьмичева. - М. : Техносфера, 2007. - 191 с.: рис., табл. - (Мир электроники ; 7-29). - ISBN 978-5-94836-106-2. - ISBN 5-94836-106-3 . - ISBN 0-7506-9499-8 (англ.)
Перевод изд.: Troubleshooting. Analog Circuits/ Robert A. Pease. Boston etc., [1993]

Рубрикатор НБУВ:
 З844.1 
 З852-082 
 З971.1 
Тематичні рубрики:
 Мікрорадіоелектронна апаратура. Мікроелектроніка 
 Експлуатація напівпровідникових приладів 
 Аналогова обчислювальна техніка 


Дод. точки доступу:
Кузьмичева, А. А. (пер. с англ.)

Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд

3.
ВА759637

Физические методы диагностики в микро- и наноэлектронике [Текст] : [колект. моногр.] / Беляев А. Е. [и др.] ; под общ. ред. чл.-кор. НАНУ д-ра физ.-мат. наук, проф. А. Е. Беляева и д-ра техн. наук, проф. Р. В. Конаковой ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева, Украина, Гос. предприятие НИИ "Орион", Украина, ОАО "Интеграл", Республика Беларусь. - Х. : ИСМА, 2011. - 382 с. : рис., табл. - (Состояние и перспективы развития функциональных материалов для науки и техники ®). - Бібліогр. в кінці розд. - 300 прим. - ISBN 966-02-2555-5 (серия). - ISBN 978-966-02-6350-8

Рубрикатор НБУВ:
 В372.13,021 
 З852-082.05 с3 
Тематичні рубрики:
 Рентгеноструктурний аналіз 
 Напівпровідникові прилади 


Дод. точки доступу:
Беляев, А. Е.; Болтовец, Н. С.; Венгер, Е. Ф.; Волков, Е. Г.; Кладько, В. П.; Беляев, А. Е. (ред.); Конакова, Р. В. (ред.); Национальная академия наук Украины; Институт физики полупроводников имени В. Е. Лашкарева (Киев); "Орион", научно-исследовательский институт, государственное предприятие (Киев); "Интеграл", открытое акционерное общество (Минск)

Видання зберігається у :
Основний фонд

 
Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського