 Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=З852-082.05 с3<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1.  |
ВА759637
Физические методы диагностики в микро- и наноэлектронике [Текст] : [колект. моногр.] / Беляев А. Е. [и др.] ; под общ. ред. чл.-кор. НАНУ д-ра физ.-мат. наук, проф. А. Е. Беляева и д-ра техн. наук, проф. Р. В. Конаковой ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева, Украина, Гос. предприятие НИИ "Орион", Украина, ОАО "Интеграл", Республика Беларусь. - Х. : ИСМА, 2011. - 382 с. : рис., табл. - (Состояние и перспективы развития функциональных материалов для науки и техники ®). - Бібліогр. в кінці розд. - 300 прим. - ISBN 966-02-2555-5 (серия). - ISBN 978-966-02-6350-8Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Беляев, А. Е.; Болтовец, Н. С.; Венгер, Е. Ф.; Волков, Е. Г.; Кладько, В. П.; Беляев, А. Е. (ред.); Конакова, Р. В. (ред.); Национальная академия наук Украины; Институт физики полупроводников имени В. Е. Лашкарева (Киев); "Орион", научно-исследовательский институт, государственное предприятие (Киев); "Интеграл", открытое акционерное общество (Минск)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|
|
Простий
Розширений
Пам`ятка користувача