![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>A=Бешенков В$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. ![](/irbis_nbuv/images/printer.jpg) | РА305318 Бешенков, Владимир Григорьевич. Фазовый анализ тонких пленок и границ раздела по оже- спектрам на примере систем Al/Tin/Si и Co-Si/Si [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 / Бешенков Владимир Григорьевич ; Всесоюзный научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума. - М., 1990. - 24 с.: ил.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Всесоюзный научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|
|