![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>A=Wanka H$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. ![](/irbis_nbuv/images/printer.jpg) | ІВ194939 Wanka, Harald. Ellipsometrie und Rasterkraftmikroskopie- Untersuchung der Nukleation und des Wachstums vomn Si-Dünnschichten [Text] : Abh. / H. Wanka ; Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik. - Stuttgart : [б.в.], 1997. - 148 S.: Abb. - Бібліогр.: S.: 134-146Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik
Видання зберігається у :
|
|
|