Пошуковий запит: (<.>A=Шелудченко Б$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 33
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. |
Лизунов В. В. Возможности диагностики нескольких типов дефектов кристалла на основе эффекта различного влияния дефектов разного типа на деформационную зависимость полной интегральной интенсивности динамической дифракции // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - 36, № 9.
|
2. |
Лизунов В. В. Новые возможности интегральной динамической дифрактометрии несовершенств кристаллов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - 37, № 2.
|
3. |
Лизунов В. В. Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр. - 2014. - 12, вип. 3.
|
4. |
Лизунов В. В. Новые подходы и возможности динамической дифрактометрии несовершенств многопараметрических систем // Успехи физики металлов. - 2014. - 15, № 2.
|
5. |
Лизунова С. В. Теория многократного (динамического) рассеяния в некристаллических объектах // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - 35, № 11.
|
6. |
Шелудченко Б. В. Теоретическая трехосевая модель динамического рассеяния и формирования изображений некристаллических объектов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - 36, № 4.
|
7. |
Лизунов В. В. Явление усиления на порядки величины проявления дефектов в картине многократного рассеяния и его дисперсионная природа // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - 36, № 7.
|
8. |
Лизунов В. В. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр. - 2015. - 13, вип. 1.
|
9. |
Лизунов В. В. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр. - 2015. - 13, вип. 2.
|
10. |
Лизунова С. В. Аналитическая модель формирования фазоконтрастных изображений неоднородных некристаллических объектов произвольной формы // Металлофизика и новейшие технологии. - 2017. - 39, № 2.
|
11. |
Дмітрієв С. В. Статистична теоретична модель динамічної Бреггової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром // Металлофизика и новейшие технологии. - 2017. - 39, № 12.
|
12. |
Молодкін В. Б. Нові можливості створення фазоконтрастних томографів для медицини // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр. - 2015. - 13, вип. 3.
|
13. |
Молодкін В. Б. Нові фізичні уявлення щодо природи прояву недосконалостей структури матеріалів у картині багатократного розсіяння випромінення та перспективи їх використання // Успехи физики металлов. - 2015. - 16, № 2.
|
14. |
Дмитриев С. В. Теория динамического фактора Кривоглаза - Дебая - Валлера // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - 37, № 9.
|
15. |
Скапа Л. Н. Дисперсионные эффекты взаимосвязанности зависимостей от различных условий дифракции картины рассеяния и колоссального усиления этих зависимостей и их структурной чувствительности и информативности // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - 37, № 11.
|
16. |
Молодкін В. Б. Анізотропна модель динамічної трикристальної Брегг-дифрактометрії монокристалів з дефектами. Когерентна і дифузна складові динамічної картини розсіяння. — 2008 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
17. |
Молодкін В. Б. Анізотропна модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалості кристалічних виробів нанотехнологій. I. Когерентна складова динамічної картини розсіяння. — 2008 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
18. |
Молодкін В. Б. Анізотропна модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалості кристалічних виробів нанотехнологій. II. Дифузна складова динамічної картини розсіяння. — 2008 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
19. |
Шелудченко Б. А. Надійність роботи грунтообробного знаряддя з "кільцевими" ротаційними робочими органами за наявності у них технологічних тріщин. — 1999 // Вісн. Держ. агроекол. акад. України.
|
20. |
Кисловський Є. М. Вплив дефектiв у монохроматорi на профiлi трикристальної рентгенiвської дифрактометрiї. — 2007 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
| |