РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Наукова періодика України (8)
Пошуковий запит: (<.>A=Goloborodko A$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 12
Представлено документи з 1 до 12
1.

Barchuk O. I. Experimental studies of coherent light propagation under multiple scattering conditions. — 2006 // Укр. фіз. журн.
2.

Goloborodko A.  The model of the material with negative refraction index. — 2010 // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка.
3.

Goloborodko N.  Wavefront scanner for detecting surface inhomogeneities. — 2010 // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка.
4.

Goloborodko N. S. Determination of surface defects by using the wavefront scanner // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2010. - 13, № 1.
5.

Goloborodko A. A. Effect of environment on the quality of optical signals transmission // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Фіз.-мат. науки. - 2012. - Вип. 4.
6.

Goloborodko A. A. Simulating the diffraction grating reflectivity using effective medium theory // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2013. - 16, № 2.
7.

Goloborodko A. Development of automated unit for wavefront scanner // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка. - 2012. - Вип. 18.
8.

Goloborodko A. Coherent light propagation in optically inhomogeneous media // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка. - 2013. - Вип. 1.
9.

Goloborodko A. A. Multiangular and spectral ellipsometry for semiconductor nanostructures classification // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2014. - 6, № 2.
10.

Kotov M. M. Speckle pattern formation in spatially limited optical systems // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2016. - 19, № 1.
11.

Buchenko V. V. Bi nanolines characterization by linear optical methods // Functional Materials. - 2016. - 23, № 3.
12.

Kapeliushna T. Analysis of digitalization changes and their impact on enterprise security management under uncertainty // Наук. вісн. Нац. гірн. ун-ту. - 2023. - № 4.
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського