Current challenges in diamond anvil cell design are reviewed, especially as they relate to devices for X-ray diffraction. Cells for high- and low-temperature use are described, as are those for sideways X-ray scatter in diamond anvil cells, and for microscope use.

Розглянуто питання, пов'язані з інформативністю рентгенівських спектрів, електронної будови сплавів і сполук перехідних, рідкісноземельних і благородних металів, а також характер міжатомної взаємодії у сплавах. Висвітлено природу і властивості рентгенівських променів, методи реєстрації їх інтенсивності, взаємодію з речовиною, систематику та інформативність рентгенівських спектрів.

Експериментально та шляхом числового розв'язування рівнянь Такагі досліджено вплив слабких і сильних спотворень, утворених дією зосередженого навантаження, на формування маятникових осциляцій інтенсивності рентгенівських променів у клиноподібних кристалах германію та кремнію. У випадку слабких деформацій на формування маятникових смуг впливають процеси розсіяння, які зумовлюють вигин і фокусування (дефокусування) траєкторій рентгенівських променів. У області сильних деформацій - процеси міжвиткового розсіяння.

Розвинуто нову теоретичну схему рентгенівської спектроскопії високого розрішення, яка базується на КЕД підході, для визначення та діагностики параметрів плазми токамака. Наведено результати по довжинах хвиль та інших атомних характеристиках спектра сателітів He-подібного іона Sc, які порівнюються з даними теорії без урахування КЕД поправок. Теорія добре узгоджується з даними вимірювань на токамаці de Fontenau-aux-Roses.

Викладено фізичні основи високоенергетичної спектроскопії. Розглянуто інформативність рентгенівських емісійних та абсорбційних спектрів елементів. Подано фізичні принципи рентгенофотоелектронної спектроскопії. Розглянуто кількісну рентгеноелектронну діагностику поверхні матеріалів. Значну увагу приділено висвітленню результатів теоретичного й експериментального дослідження фізичних властивостей, валентного стану й електронної структури подвійних і потрійних інтерметалічних сполук.

Розроблено модель для кількісного аналізу систем з великою питомою поверхнею, які складаються зі сферичних частинок двох різних типів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. Запропоновано методику розрахунку розмірів частинок певного типу, якщо відомо середній розмір частинок іншого типу.