 Книжкові видання та компакт-диски  Журнали та продовжувані видання  Автореферати дисертацій  Реферативна база даних  Наукова періодика України  Тематичний навігатор  Авторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В344-1<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
|
| 1. |
Adams D. M. Current challenges in diamond anvil cell design / D. M. Adams, R. M. Appleyard // Физика и техника высоких давлений. - 2000. - 10, № 4. - С. 22-27. - англ.Current challenges in diamond anvil cell design are reviewed, especially as they relate to devices for X-ray diffraction. Cells for high- and low-temperature use are described, as are those for sideways X-ray scatter in diamond anvil cells, and for microscope use. Індекс рубрикатора НБУВ: В344-1
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14388 Пошук видання у каталогах НБУВ
| | 2. |
Шпак А. П. Сучасні методи дослідження структури матеріалів. Ч. 1. Фізика рентгенівських променів / А. П. Шпак, В. Л. Карбівський, Ю. А. Куницький, О. М. Пошелюзний. - К. : "Академперіодика", 2001 . - 103 с. - Бібліогр.: 34 назв. - укp.Розглянуто питання, пов'язані з інформативністю рентгенівських спектрів, електронної будови сплавів і сполук перехідних, рідкісноземельних і благородних металів, а також характер міжатомної взаємодії у сплавах. Висвітлено природу і властивості рентгенівських променів, методи реєстрації їх інтенсивності, взаємодію з речовиною, систематику та інформативність рентгенівських спектрів. Індекс рубрикатора НБУВ: В344-1 + В346
Рубрики:
| | 3. |
Chernyakova Yu. G. High resolution X-ray spectroscopy approach to definition of the tokamak plasma parameters = Метод рентгенівської спектроскопії високого розрішення для визначення параметрів плазми токамака / Yu. G. Chernyakova // Фотоэлектроника: Межвед. науч. сб. - 2006. - Вып. 15. - С. 112-114. - Библиогр.: 16 назв. - англ.Розвинуто нову теоретичну схему рентгенівської спектроскопії високого розрішення, яка базується на КЕД підході, для визначення та діагностики параметрів плазми токамака. Наведено результати по довжинах хвиль та інших атомних характеристиках спектра сателітів He-подібного іона Sc, які порівнюються з даними теорії без урахування КЕД поправок. Теорія добре узгоджується з даними вимірювань на токамаці de Fontenau-aux-Roses. Індекс рубрикатора НБУВ: В344-1 + В333.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж67522 Пошук видання у каталогах НБУВ
| | 4. |
Zaulychny Ya. V. X-Ray emission spectra of cubic TaCxN~0,75-x carbonitrides = Рентгенівські емісійні спектри кубічних карбонітридів TaCxN~0,75-x / Ya. V. Zaulychny, A. K. Sinelnichenko, A. Yu. Garmash, O. Yu. Khyzhun // Фізика і хімія твердого тіла. - 2005. - 6, № 4. - С. 529-534. - Библиогр.: 15 назв. - англ.Із використанням рентгенівської емісійної спектроскопії (РЕС) досліджено електронну структуру нестехіометричних кубічних карбонітридів танталу (КТ) TaCxNy, де <$E x~+~y~symbol Ы~0,75>. Для вказаної системи одержано РЕ <$E roman Ta L beta sub 5>-, <$E roman N K alpha>- і <$E roman C K alpha>-смуги. Встановлено, що заміщення атомів вуглецю атомами азоту в системі TaCxN~0,75-x призводить до зменшення інтенсивності головного максимуму <$E roman Ta L beta sub 5>-смуги та суттєвого зростання її півширини. Для всіх досліджених нестехіометричних КТ півширини <$E roman N K alpha>- і <$E roman C K alpha>-смуг залишаються сталими в межах точності експерименту. Результати експериментального дослідження системи TaCxN~0,75-x вказують на те, що заміщення атомів вуглецю азотом призводить до зростання металічної та зменшення ковалентної складових хімічного зв'язку. Для всіх сполук досліджуваної системи TaCxN~0,75-x є характерною наявність сильної гібридизації Ta5d- і C(N)2p-станів. Ключ. слова: X-Ray emission spectroscopy, tantalum carbide, tantalum nitride, electronic structure, chemical bonding Індекс рубрикатора НБУВ: Г125.435-1 + В344-1
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ
| | 5. |
Plyuto I. V. Quantitative XPS analysis of disperse systems: modelling of mixed systems / I. V. Plyuto, A. P. Shpak // Доп. НАН України. - 2002. - № 1. - С. 85-90. - Бібліогр.: 4 назв. - англ.Розроблено модель для кількісного аналізу систем з великою питомою поверхнею, які складаються зі сферичних частинок двох різних типів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. Запропоновано методику розрахунку розмірів частинок певного типу, якщо відомо середній розмір частинок іншого типу. Індекс рубрикатора НБУВ: В344-1
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
|