Проаналізовано результати медичної допомоги, наданої потерпілим з закритою торакоабдомінальною травмою на догоспітальному етапі. Визначено недоліки та складності в лікувально-діагностичній тактиці. Помилки лікарів швидкої медичної допомоги відзначено у 51,3 % спостережень.

Виконано теоретичний аналіз нульового розсіяння в електронографії наноматеріалів. Показано, що на відміну від рентгенографії, в електронографічних дослідженнях просте нехтування нульовим розсіянням є неправомірним. Його інтенсивність в області векторів розсіяння електронів <$E s~<<~15~roman нм sup -1> може складати десятки процентів від величини максимумів структурного фактора об'єкта. В наближенні, коли товщина зразків не перевищує 100 нм, одержано просте співвідношення, яке дозволяє враховувати нульове розсіяння в практичній електронографії.

Установлено, що метод функцій радіального розподілу атомів в електронографії з використанням інтегрального перетворення Фур'є застосовний лише для невпорядкованих матеріалів, ступінь розупорядкованості яких характеризується дисперсією розподілу довжин міжатомних зв'язків, більшою за <$E 0,01~{roman A back 35 up 35 symbol Р} sup 2>.

Надано порівняльний огляд властивостей полімерів із вмістом азобензенових барвників та аморфних плівок халькогенідів. Проаналізовано експериментальні дані, що описують різні аспекти фотостимульованих перетворень, які виявляються у змінах оптичних властивостей даних матеріалів. Розглянуто орієнтаційно визначені (анізотропні) зміни у процесі фотозбудження, виявлено вражаючі збіги і, навпаки, суттєві відмінності у змінах властивостей цих двох видів аморфних середовищ під впливом ініціюючого зміни світлового поляризованого випромінення.

Разработана теория формирования электронно-микроскопических изображений (ЭМИ) аморфных материалов и наносистем сложного химического состава с учетом как амплитудного, так и дифракционного вклада в контраст. Показано, что за формирование контраста ЭМИ таких объектов отвечают 3 составляющих рассеяния электронов в пределах апертурной диафрагмы объективной линзы: упругое некогерентное, упругое когерентное и неупругий фон. Вариации интенсивности ЭМИ за счет упругого некогерентного рассеяния определяются распределением атомной плотности, изменениями химического состава и отклонениями геометрической толщины локальных участков исследуемого образца. Вклад упругого когерентного рассеяния в контраст изображений обусловливается отличиями структурных факторов разных локальных участков, а вклад неупругого фона - отличиями интенсивности такого фона.

Сочетанием методов электронной и атомно-силовой микроскопии определены количественные параметры наноструктуры аморфных пленок системы Ge - Se: размеры неоднородностей, высота выступов и глубина впадин рельефа поверхности, диаметры зерен или столбиков, размеры каналов между столбиками, размеры нанопор, степень нанопористости. Установлено, что нанонеоднородности реализуются благодаря наличию рельефа поверхности исследуемых образцов и их нанопористости.