Електронну структуру продуктів карбонізації полівініліденфториду (ПВДФ) на матриці SiO2 вивчено за допомогою методів рентгенівської емісійної та фотоелектронної спектроскопії. Форма одержаних рентгенівських емісійних C<$E K alpha>-смуг продуктів карбонізації ПВДФ на матриці діоксиду кремнію (SiO2) нагадує форму смуги фулерену C60 із домішками інших вуглецевих структур. Форма C<$E K alpha>-смуги продуктів карбонізації ПВДФ на матриці SiO2 із домішками графіту нагадує таку ж смугу чистого графіту. Однією з характеристик матриці є слабкий хімічний зв'язок атомів кисню в діоксиді кремнію з продуктами карбонізації ПВДФ. Форма та енергетичне положення особливостей тонкої структури рентгенівських емісійних O<$E K alpha>-смуг продуктів карбонізації ПВДФ на матриці діоксиду кремнію та SiO2 із домішками графіту нагадують такі аналогічних смуг вихідних частинок SiO2. Поверхня продуктів карбонізації ПВДФ містить C-C, C=C, CO, COO і CHF групи.