Вперше запропоновано модель оцінювання завадостійкості матричних біноміальних компонентів, що характеризуються обчисленням ймовірностей помилок чисел на виході пристрою залежно від імовірності помилки одного розряду, довжини чисел і кількості одиниць у них, що дозволяє будувати компоненти із заданим рівнем завадостійкості. Уперше запропоновано метод виявлення помилок у матричних біноміальних компонентах цифрових пристроїв, який полягає у виборі перевірного розряду у кінці кожного рядка матриць так, що кількість одиниць у радках залишається парною, що дозволило підвищити рівень завадостійкості відповідних компонентів цифрових пристроїв.