Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Дорофеева В$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 2
Представлено документи з 1 до 2
|
1. |
Спиридонов Н. А. Формирование электрофизических свойств пьезокерамики на основе ЦТС, полученной из нанодисперсных порошков [Електронний ресурс] / Н. А. Спиридонов, Л. Г. Гусакова, В. М. Погибко, Д. В. Кузенко, В. Ф. Раков, В. В. Дорофеева, В. Н. Спиридонов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2012. - Т. 10, Вип. 1. - С. 115-122. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2012_10_1_16 Представлены результаты исследований, направленных на получение пьезокерамических элементов (ПКЭ) с высокой чувствительностью g33. Для изготовления ПКЭ использованы промышленные марки материалов на основе твердых растворов цирконата-титаната свинца (ЦТС): ЦТССт-2М, ЦТС-46. Также использован модельный материал состава Pb(Zr0,52Ti0,48)O3 (ЦТС 52/48) с легирующими добавками.
| 2. |
Кузенко Д. В. Долговременная релаксация в пьезоэлектрической керамике ЦТС, обусловленная дефектами кристаллической решётки нанометрового масштаба [Електронний ресурс] / Д. В. Кузенко, В. М. Ищук, А. И. Бажин, Н. А. Спиридонов, В. В. Дорофеева // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2012. - Т. 10, Вип. 2. - С. 313-319. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2012_10_2_8 Приведены результаты изучения долговременной релаксации в пьезоэлектрической керамике Pb(Zr,Ti)O3 после прекращения возбуждения (электрическим полем, нагревом, механическим сжатием). В процессе старения происходит уменьшение диэлектрической проницаемости по логарифмическому закону. Подобное поведение связывается с релаксацией электрического заряда, выделившегося при частичной деполяризации керамики и локализовавшегося на дефектах решетки нанометрового масштаба.
|
|
|