Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (2)Реферативна база даних (47)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>A=Низкова А$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 7
Представлено документи з 1 до 7
1.

Шпак А. П. 
Уникальная информативность диффузной динамической комбинированной дифрактометрии материалов и изделий нанотехнологий [Електронний ресурс] / А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, И. М. Карнаухов, В. В. Молодкин, Е. Г. Лень, А. И. Низкова, С. И. Олиховский, Б. В. Шелудченко, Дж. Е. Айс, Р. И. Барабаш // Успехи физики металлов. - 2008. - Т. 9, № 3. - С. 305-356. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhM_2008_9_3_4
Проведен детальный систематический анализ открытого явления уникальной информативности динамической картины рассеяния в кристаллах с дефектами, установлены его физическая природа и возможности практического использования. Главный результат работы - заложены принципы метода управления соотношением когерентной и диффузной составляющих картины динамической дифракции и соотношениями вкладов дефектов разного типа при неизменной дефектной структуре образца за счет изменения только условий дифракции, т.е. основы метода диффузной динамической комбинированной дифрактометрии (ДДКД). Созданы основы нового поколения кристаллографии - ДДКД, которая позволяет, не прибегая к недифрактометрическим методам исследований, обеспечивать полноту независимых экспериментальных данных для однозначного определения параметров дефектной структуры произвольной сложности.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.17 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
2.

Шпак А. П. 
Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния [Електронний ресурс] / А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, В. Б. Молодкин, В. Л. Носик, С. В. Дмитриев, Е. Г. Лень, С. И. Олиховский, А. И. Низкова, В. В. Молодкин, Е. В. Первак, А. А. Катасонов, Л. И. Ниничук, А. В. Мельник // Успехи физики металлов. - 2009. - Т. 10, № 3. - С. 229-281. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhM_2009_10_3_2
Изложена обобщенная динамическая теория брэгговского и диффузного рассеяний рентгеновских лучей в кристаллах с дефектами нескольких типов. Рассмотрены выражения для дифференциальной и интегральной интенсивностей рассеяния, связывающие их с характеристиками дефектов в кристаллах при дифракции, как на отражение, так и на прохождение. Описаны экстинкционные эффекты за счет рассеяния на дефектах без ограничений на их размеры в когерентном и диффузном рассеяниях при малых и больших эффектах диффузной экстинкции для дифференциального и интегральных коэффициентов и факторов экстинкции за счет многократности рассеяния на флуктуационных отклонениях от периодичности решеток кристаллов. На основании построенной динамической теории, при ее сравнении с кинематической, создана новая физическая концепция, которая позволила раскрыть и детально проанализировать физическую природу обнаруженных явлений, обуславливающих, с одной стороны, принципиальное ограничение информативности кинематической картины рассеяния, а с другой стороны, радикальное повышение информативности картины динамического рассеяния. Показано, что это повышение информативности обусловлено обнаруженным явлением очень существенной зависимости от условий дифракции характера влияния дефектов на динамическую картину, что не имеет места принципиально в кинематическом случае. Показаны обусловленные этим явлением и рядом следствий из него уникальные диагностические возможности созданной интегральной диффузнодинамической комбинированной дифрактометрии (ИДДКД). В частности, показаны качественно новые возможности реализации впервые многопараметрической диагностики материалов и изделий нанотехнологий. При этом на основании построенной теории созданы модели высокоинформативной ИДДКД для анализа скачков интенсивности вблизи К-края поглощения и отклонений от закона Фриделя, а также их деформационных и толщинных зависимостей. Проведена экспериментальная апробация созданных моделей.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.093 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Лизунов В. В. 
Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, С. М. Бровчук, А. И. Низкова, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Б. В. Шелудченко, А. И. Гранкина, И. И. Рудницкая, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачев // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2014. - Т. 12, Вип. 3. - С. 565-584. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2014_12_3_13
Построены полуфеноменологические теоретические модели деформационных зависимостей (ДЗ) полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами нескольких типов для достаточно высокой степени упругой деформации в различных условиях дифракции. Показана достаточная избирательность чувствительности этих ДЗ ПИИДД к тому типу дефектов, который дает определяющий вклад в ПИИДД в выбранных условиях дифракции и интервалах изменения степени упругой деформации. Это создает основу для решения проблемы диагностики многопараметрических систем путем управления этой избирательностью ДЗ ПИИДД при комбинированном подходе. Приведены результаты практической реализации разработанного подхода.
Попередній перегляд:   Завантажити - 407.791 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
4.

Шелудченко Б. В. 
Теоретическая трёхосевая модель динамического рассеяния и формирования изображений некристаллических объектов [Електронний ресурс] / Б. В. Шелудченко, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, С. И. Олиховский, Е. Н. Кисловский, А. Ю. Гаевский, В. В. Лизунов, А. И. Низкова, Т. П. Владимирова, В. В. Молодкин // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - Т. 36, № 4. - С. 559-573. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2014_36_4_13
Попередній перегляд:   Завантажити - 341.001 Kb    Зміст випуску     Цитування
5.

Лизунов В. В. 
Возможности диагностики нескольких типов дефектов кристалла на основе эффекта различного влияния дефектов разного типа на деформационную зависимость полной интегральной интенсивности динамической дифракции [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, С. М. Бровчук, А. И. Низкова, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Б. В. Шелудченко, А. И. Гранкина, И. И. Рудницкая, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачёв // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - Т. 36, № 9. - С. 1271-1285. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2014_36_9_12
Установлено и количественно проанализировано различие деформационных зависимостей (ДЗ) когерентной (Rib) и диффузной (Rid) составляющих полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) как между собой, так и для каждого из нескольких типов дефектов, одновременно присутствующих в монокристаллическом образце. Это открывает принципиальную возможность определения параметров дефектов разного типа при использовании (наряду с вариацией условий дифракции) различных участков ДЗ ПИИДД с резкой ДЗ Rid/Rib (вклада диффузной составляющей). Показано, что при изменении условий Лауэ-дифракции от соответствующих приближению толстого кристалла к соответствующим приближению тонкого кристалла и при расширении области изменения степени упругой деформации появляется возможность управления интервалом и характером изменения отношения Rid/Rib, а в результате - чувствительностью ДЗ ПИИДД к типу и характеристикам микродефектов.
Попередній перегляд:   Завантажити - 427.57 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
6.

Лизунов В. В. 
Новые возможности интегральной динамической дифрактометрии несовершенств кристаллов [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, С. В. Лизунова, Н. Г. Толмачёв, А. И. Низкова, Е. С. Скакунова, С. В. Дмитриев, Б. В. Шелудченко, Я. В. Василик // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - Т. 37, № 2. - С. 265-279. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2015_37_2_14
В предыдущей работе авторов обсуждалось открытое ими неизвестное ранее явление управляемого условиями дифракции дисперсионного усиления на несколько порядков величины (в сравнении с традиционным кинематическим случаем диагностики) проявления дефектов в статистической картине динамического (многократного) рассеяния. В данной работе обсуждены наиболее важные следствия из этого открытого явления, которые обеспечили возникновение эффектов чувствительности (и при этом уникальной) к несовершенствам кристаллов полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) и аномального вклада ее диффузной составляющей, а также чувствительности к характеристикам дефектов появившихся сильных зависимостей ПИИДД от условий дифракции. Обсуждены новые возможности и примеры использования измерений ПИИДД, вклада ее диффузной составляющей и их зависимостей от различных условий динамической дифракции для неразрушающей экспрессной высокочувствительной и информативной диагностики несовершенств структуры многопараметрических систем.
Попередній перегляд:   Завантажити - 340.857 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
7.

Молодкин В. Б. 
Физическая природа и новые возможности использования эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики кристаллов с нарушенным поверхностным слоем и дефектами [Електронний ресурс] / В. Б. Молодкин, А. И. Низкова, Е. И. Богданов, С. И. Олиховский, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачев, В. В. Лизунов, Я. В. Василик, А. Г. Карпов, О. Г. Войток // Успехи физики металлов. - 2017. - Т. 18, № 2. - С. 177-204. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhM_2017_18_2_5
Обсуждены результаты обнаружения и раскрытия физической природы нового эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) рентгеновских лучей за счет не нарушенного поверхностного слоя (НПС), что описано авторами в предыдущей работе, а крупных дефектов (соизмеримых с длиной экстинкции рентгеновских лучей). Такой новый эффект асимметрии обусловлен уменьшением диффузной составляющей ПИИДД за счет полного в области брэгговского пика отражения этой составляющей, относительный вклад которого увеличивается с ростом размера дефектов. При этом такая асимметрия оказалась имеющей противоположный знак в сравнении с вызванной НПС, что принципиально улучшает диагностические функциональные возможности при совместном использовании этих эффектов. Обсуждены также результаты создания на основе обнаруженных двух эффектов асимметрии метода многопараметрической диагностики одновременно и толщины НПС, и характеристик дефектов без ограничений на их размеры и количество их типов.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.094 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського