Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (12) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Goloborodko A$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 8 Представлено документи з 1 до 8 |
|||
| 1. | 
Goloborodko A. Coherent light propagation in optically inhomogeneous media [Електронний ресурс] / A. Goloborodko // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Радіофізика та електроніка. - 2013. - Вип. 1. - С. 17-19. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_Rte_2013_1_7 Проведено теоретичний аналіз явища деполяризації оптичних сигналів, що розповсюджуються оптичним середовищем зі статистично розподіленими параметрами. Дослідження поляризаційних характеристик випромінювання виконано з використанням методу кореляційної матриці. Розглянуто поляризаційні властивості оптичних полів, що сформовані в зоні дифракції Фраунгофера. | ||
| 2. | 
Goloborodko A. A. Multiangular and Spectral Ellipsometry for Semiconductor Nanostructures Classification [Електронний ресурс] / A. A. Goloborodko, M. V. Epov, L. Y. Robur, T. V. Rodionova // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 2. - С. 02002(5). - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_2_4 Исследованы возможности многопараметрического определения полупроводниковых наноструктур на основе спектральных зависимостей поляризованного излучения коэффициента отражения Rp, Rs от угла падения в диапазоне 200 - 800 нм. Экспериментальные данные показали высокие коэффициенты чувствительности отражения угловой зависимости от типа поликристаллических структур. Наличие дополнительных спектральных экстремумов в зависимости от преломления и поглощения может быть связано с размером зерен поликристаллической структуры и типа границ зерен. Показана возможность многопараметрического исследования оптических свойств и толщины полупроводниковых слоев на кремниевой подложке. | ||
| 3. | 
Goloborodko N. S. Surface defects determining by the wave front scanner [Електронний ресурс] / N. S. Goloborodko, V. I. Grygoruk, V. N. Kurashov, D. V. Podanchuk, A. A. Goloborodko, M. M. Kotov // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 65-69. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_14 | ||
| 4. |
Goloborodko A. A. Simulating the diffraction grating reflectivity using effective medium theory [Електронний ресурс] / A. A. Goloborodko, N. S. Goloborodko, Ye. A. Oberemok, S. N. Savenkov // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 2. - С. 128-131. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_2_7 The features of optical radiation interaction with surface of gratings are investigated. The diffraction grating is proposed to be used in the effective medium model to test nanostructured surfaces. This object allows obtaining simultaneous visualization of different spatial frequencies and estimation of both structure and surface features of 3D-objects. It was shown that the effective medium model could be used to predict the reflectivity of nanostructured surfaces by using diffraction gratings with different depths of profile. Computer simulations show that the filling factor of composite systems could be an angle dependent function. So, the correct solution of the inverse problem of finding surface characteristics, such as refraction indices and absorption coefficients, is related with the angle dependence of filling factor. | ||
| 5. | 
Buchenko V. V. Ellipsometric studies of nanocrystalline silicon films with the thicknesses less than 100 nm [Електронний ресурс] / V. V. Buchenko, A. A. Goloborodko // Ukrainian journal of physical optics. - 2016. - Vol. 17, № 3. - С. 124-131. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UJPO_2016_17_3_7 | ||
| 6. | 
Podanchuk D. V. Talbot sensor with diffraction grating adaptation to wavefront aberrations [Електронний ресурс] / D. V. Podanchuk, A. A. Goloborodko, M. M. Kotov, D. A. Petriv // Ukrainian journal of physics. - 2015. - Vol. 60, № 1. - С. 10-14. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2015_60_1_5 | ||
| 7. |
Kotov M. M. Speckle pattern formation in spatially limited optical systems [Електронний ресурс] / M. M. Kotov, V. N. Kurashov, A. A. Goloborodko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 1. - С. 47-51. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_1_11 The dependences of statistical parameters inherent to speckle patterns on the object roughness and aperture size have been investigated. The experimental results that confirm theoretical dependence quality within the limits of errors were obtained. It has been shown that spatial finiteness of the optical system causes significant changes of transferred field. | ||
| 8. | 
Kapeliushna T. Analysis of digitalization changes and their impact on enterprise security management under uncertainty [Електронний ресурс] / T. Kapeliushna, A. Goloborodko, S. Nesterenko, I. Bezhenar, B. Matviichuk // Naukovyi visnyk Natsionalnoho Hirnychoho Universytetu. - 2023. - № 4. - С. 150-156. Purpose. To analyze the changes caused by the acceleration of digitalization under conditions of uncertainty and note their impact on enterprise security management in this environment. Methodology. The methodological basis for the study was the theoretical provisions of enterprise security; legal regulations governing security and information protection, scientific works by domestic and foreign scholars on the issues of enterprise security management. The methods of analysis, synthesis, deduction, generalization and cognition were used in the study on the issue. Findings. The conditions of functioning of enterprises are analyzed, in particular, the security of enterprises is considered in conditions of uncertainty caused by the martial law imposed in Ukraine and the acceleration of digitalization of business processes as a result of the emergence of new challenges. Originality. A number of events are traced that preceded the increased interest in electronic services and active investment by enterprises related to e-commerce; artificial intelligence, big data; technology. The basis is investigated for the emergence of new challenges and threats associated with the active use of the Internet, applied solutions, servers, big data, data processing methods, the use of third-party software, i.e. the risks of violating the integrity, reliability, and confidentiality of information. The trends in measuring enterprise security are analyzed and the factors that strengthen the role of protecting information assets of enterprises and organizations are identified. It is proposed to pay more attention to ensuring the security of enterprises, taking into account not only physical but also invisible intrusions, such as: threats to information, the information field of enterprise functioning through a consistent response to cyber incidents/cyber-attacks by providing cybersecurity actors with protective stages: preparation, detection and analysis, deterrence, elimination, recovery, analysis of the efficiency of measures to respond to cyber incidents/cyber attacks. Practical value. The analysis carried out proves the relevance of the issues of enterprise security, the formation of changes in views on enterprise security in accordance with current trends and uncertain conditions. The findings of the study can be taken into account and practically implemented in the formation of the enterprise security policy, regardless of the field of activity.  Зміст випуску  Реферативна база данихПовний текст публікації буде доступним після 01.09.2024 р., через 46 днів | ||
Попередній перегляд: 
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |