Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>AT=Fodchuk Structural changes in Cz-Si$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Fodchuk І. М. 
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry [Електронний ресурс] / І. М. Fodchuk, V. V. Dovganyuk, Т. V. Litvinchuk, V. P. Kladko, М. V. Slobodian, O. Yo. Gudymenko, Z. Swiatek // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 2. - С. 209-213. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_2_21
Structural changes in silicon single crystals irradiated with high-energy electrons (E = 18 MeV) were studied. The peculiarities of diffraction reflection curve behaviour and changes in the profiles of isodiffusion lines in high-resolution reciprocal space maps (HR-RSMs) were found as a function of the radiation dose. The generalized dynamic theory of X-ray Bragg-diffraction in crystals comprising defects of several types (spherical and disc-shaped clusters as well as dislocation loops) and a damaged near-surface layer was used for explanation.
Попередній перегляд:   Завантажити - 2.132 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського