Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>AT=Tatyanenko Semiconductor surface spectroscopy using$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Tatyanenko N. P. 
Semiconductor surface spectroscopy using transverse acousto-electric effect: Role of surface charge in photo-processes at ZnS/Si interface [Електронний ресурс] / N. P. Tatyanenko, N. N. Roshchina, V. L. Gromashevskii, G. S. Svechnikov, L. V. Zavyalova, B. A. Snopok // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2018. - Vol. 21, № 3. - С. 263-272. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2018_21_3_9
The effect of illumination in the visible spectral range on the magnitude of transverse acoustoelectric effect (TAE) in ZnS/Si structures was studied using a noncontact surface acoustic wave device based on the acoustoelectronic structure with an air gap. ZnS films were obtained using pyrolysis of the chelate organometallic complex, zinc diethyldithiocarbamate, on Si substrates within the temperature range 220 to <$E260~symbol Р roman C>. It has been established that the charge of the adsorption origin on the external surface of the ZnS film strongly influences the photo-processes in the structure under consideration. For the samples with a small surface charge, the value of TAE decreases rapidly with the increase in illumination power due to an increase in the concentration of non-equilibrium carriers. For the samples with a large surface charge, the barrier-trap mechanism of photogeneration is observed, in which the appearance of non-equilibrium carriers is accompanied by their capture and subsequent thermalization. This compensating mechanism explains well both stabilization of the magnitude of TAE by a distributed system of traps with rather large capacitance, and the specific shape of dependence of the TAE magnitude on illumination power. The technique developed by us on the basis of the transverse acoustoelectric effect in the layered piezodielectric/air-gap/semiconductor structure is a powerful tool for non-contact determination of the charge state of film structures, depending on their deposition parameters and various external conditions.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.043 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського