Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (1) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>AT=Vijaykumar Synthesis, characterization and evaluation$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
| 1. | 
Vijaykumar S. Synthesis, Characterization and Evaluation of -Al2O3 Nanoparticles Prepared by Chemical Method with Variation of pH [Електронний ресурс] / S. Vijaykumar, R. H. Veerabhadrayya, S. K. Sushant, N. M. Shridhar // Journal of nano- and electronic physics. - 2022. - Vol. 14, no. 3. - С. 03027-1-03027-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2022_14_3_29 Дослідження спрямовано на аналіз наночастинок, одержаних шляхом коригування значення pH у процесі синтезу співосадження за допомогою хлориду алюмінію. Підготовлені зразки кориговано pH за допомогою гідроксиду амонію. Зразки прожарюють за <$E650~symbol Р roman C>, і значення pH синтезованих зразків становлять 8; 9; 9,5 (S1, S2, S3). Рентгенодифракційний (XRD) аналіз підготовлених зразків підтверджує їх ромбічну структуру. Середній розмір кристалів підготовлених зразків <$Edelta - roman {Al sub 2 O sub 3 }> становить 3,6; 2,7 та 2,8 нм для S1, S2 та S3 відповідно. Параметр решітки знаходиться в діапазоні від 0,559 до 0,563 нм для a, від 0,557 до 0,569 нм для b і від 2,375 до 2,379 нм для c, pH складає 8, 9 і 9,5 відповідно до XRD аналізу. Об'єм становить від 740 до <$E759~roman {A back 45 up 35 symbol Р } sup 3>, густина дислокацій (D) знаходиться в діапазоні від 2,020 до 3,353, механічні характеристики (деформація) входять до числа параметрів, що надаються. Графіки Вільямсона - Холла (W - H) та розмірно-деформаційні (SS) графіки детально досліджуються. Результати порівнюються, показуючи, що розмір кристала зразка знаходиться в діапазоні від 2,2 до 2,8 нм, а деформація приймає значення від 0,0193 до 0,0702 для графіків W - H, а для графіків SS розмір кристала зразка знаходиться в діапазоні від 0,97 до 1,35 нм, і деформація приймає значення в діапазоні від 0,314 до 0,409. | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |