Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Аль-Омари М$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
|
1. |
Чопоров С. В. Триангуляция поверхностей при гибридном параметрическом и неявном представлении [Електронний ресурс] / С. В. Чопоров, С. И. Гоменюк, А. А. Лисняк, М. А. В. Аль-Омари, Х. Х. М. Алатамнех // Вісник Херсонського національного технічного університету . - 2016. - № 3. - С. 542-549. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vkhdtu_2016_3_105
| 2. |
Борисовская Ю. А. Современные САПР в аэрокосмической промышленности [Електронний ресурс] / Ю. А. Борисовская, С. И. Гоменюк, М. А. В. Аль-Омари // Вісник Запорізького національного університету. Фізико-математичні науки. - 2016. - № 1. - С. 20-31. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vznu_mat_2016_1_5
| 3. |
Гоменюк С. И. Функциональное сглаживание сеток конечных элементов [Електронний ресурс] / С. И. Гоменюк, С. В. Чопоров, М. А. В. Аль-Омари // Технология приборостроения. - 2015. - № 1. - С. 10-14. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Tp_2015_1_5
| 4. |
Аль-Омари М. А. В. Язык описания твердотельных геометрических моделей FORTU-F [Електронний ресурс] / М. А. В. Аль-Омари // Вісник Запорізького національного університету. Фізико-математичні науки. - 2016. - № 2. - С. 15-25. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vznu_mat_2016_2_4
| 5. |
Аль-Омари М. А. М. Особливості генерації параметричного рентгенівського випромінення у порошках мікророзмірних частинок алмазу [Електронний ресурс] / М. А. М. Аль-Омари, М. О. Боровий // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2017. - Вип. 4. - С. 175-178. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2017_4_34 Розроблено та відпрацьовано методику експериментального дослідження інтенсивності та форми максимумів параметричного рентгенівського випромінення (ПРВ) у зворотній геометрії реєстрації за розповсюдження пучка електронів з енергією 7 Мев у полікристалічних зразках алмазу. Встановлено, що відношення інтенсивностей максимумів ПРВ від кристалографічних площин (111) та (200) N(111)/N(200) зменшується удвічі у разі зростання розмірів кристалітів від 0,3 мкм до 6 мкм, тоді як ширина максимумів на половині висоти залишається незмінною. Чутливість відношення інтенсивностей ліній ПРВ до розмірів кристалітів може бути покладена в основу нового методу оцінки розмірів частинок мікро- та наночастинок.
|
|
|