Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (7) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Efremov A$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 3 Представлено документи з 1 до 3 |
|||
| 1. | 
Efremov A. A. Nanoprobe spectroscopy of capillary forces and its application for a real surface diagnostics [Електронний ресурс] / A. A. Efremov, P. M. Lytvyn, А. O. Anishchenko, O. M. Dyachyns'ka, T. A. Aleksyeyeva, I. V. Prokopenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 2. - С. 111-124. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_2_3 The paper presents an overview and analysis of the most reliable and at the same time rather simple theoretical models describing liquid nanomeniscus geometry and forces occurring between atomic force microscope (AFM) probe and a real surface. There are experimental results in capillary bridge force rupture measured in air, and interaction force under water buffer obtained over surfaces of different nature. It is shown that the theoretical models quite adequately describe the processes observed experimentally and, in particular, bridge ruptures dynamics at the vertical probe withdraw for different speeds. Discussed here are some methodological peculiarities and nanocapillary force spectroscopy diagnostic capabilities for surface energy mapping, prospects of using of a liquid nanomeniscus in local nanochemistry, nanolithography and nano-electrochemistry of a surface. | ||
| 2. | 
Efremov A. A. Dopant depth profile modification during mass Spectrometric analysis of multilayer nanostructures [Електронний ресурс] / A. A. Efremov, V. G. Litovchenko, V. P. Melnik, O. S. Oberemok, V. G. Popov, B. M. Romanyuk // Ukrainian journal of physics. - 2015. - Vol. 60, № 6. - С. 511-520. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2015_60_6_6 | ||
| 3. |
Lytvyn P. M. Features of mechanical scanning probe lithography on graphene oxide and As(Ge)Se chalcogenide resist [Електронний ресурс] / P. M. Lytvyn, S. V. Malyuta, I. Z. Indutnyi, A. A. Efremov, O. V. Slobodyan, V. I. Min’ko, A. N. Nazarov, O. V. Borysov, I. V. Prokopenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2018. - Vol. 21, № 2. - С. 152-159. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2018_21_2_9 Combined mechanical scanning probe lithography (SPL) approach applied for the direct mask-less modification of graphene oxide (GO) flakes and the mask patterns engraving in layers of chalcogenide resist with a nanometer scale resolution have been implemented in this work. It was compared the dynamics of mechanical modification of chalcogenide films and multilayer GO flakes deposited from an aqueous suspension. The double-layer As | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |