Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
у знайденому
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (2)Реферативна база даних (60)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Lytvyn P$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 32
Представлено документи з 1 до 20
...
1.

Mitin V. F. 
Ge/GaAs(100) Thin Films: Large Effect of Film Growth Rate and Thicknesses on Surface Morphology, Intrinsic Stresses and Electrical Properties [Електронний ресурс] / V. F. Mitin, P. M. Lytvyn, V. V. Kholevchuk, L. A. Matveeva, V. V. Mitin, O. S. Kulyk, E. F. Venger // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2012. - Vol. 1, no. 3. - С. 03TF17-03TF17. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2012_1_3_19
Попередній перегляд:   Завантажити - 303.17 Kb    Зміст випуску     Цитування
2.

Mitin V. F. 
Study of Structure and Intrinsic Stresses of Ge Thin Films on GaAs [Електронний ресурс] / V. F. Mitin, V. V. Kholevchuk, V. P. Kladko, A. V. Kuchuk, P. M. Lytvyn, L. A. Matveeva // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 1. - С. 01PCSI20-01PCSI20. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_1_63
Попередній перегляд:   Завантажити - 314.146 Kb    Зміст випуску     Цитування
3.

Kuchuk A. 
Correlation between Crystallographic Alignment of Self-induced GaN Nanowires and Features of Si(111) Nitridation [Електронний ресурс] / A. Kuchuk, V. Kladko, P. Lytvyn, H. Stanchu, M. Sobancka, A. Wierzbicka, K. Klosek, Z. R. Zytkiewicz // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 4. - С. 04NAESP21-04NAESP21. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_4_23
Попередній перегляд:   Завантажити - 553.193 Kb    Зміст випуску     Цитування
4.

Lytvyn P. M. 
Ultrasonic assisted nanomanipulations with atomic force microscope [Електронний ресурс] / P. M. Lytvyn, O. Ya. Olikh, O. S. Lytvyn, O. M. Dyachyns'ka, I. V. Prokopenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 36-42. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_9
Demonstrated experimentally in this work was the possibility of controlled handling the nanoparticles with the size from 50 up to 250 nm on a semiconductor surface by using an atomic force microscope under conditions of acoustic excitation. It has been shown that the selective transport of particles of a certain size is possible owing to the change of an ultrasonic vibration amplitude. Also in this study, possible mechanisms in which ultrasound may influence the particle-surface interaction and the probe-particle (surface) interaction have been analyzed.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.198 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
5.

Efremov A. A. 
Nanoprobe spectroscopy of capillary forces and its application for a real surface diagnostics [Електронний ресурс] / A. A. Efremov, P. M. Lytvyn, А. O. Anishchenko, O. M. Dyachyns'ka, T. A. Aleksyeyeva, I. V. Prokopenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 2. - С. 111-124. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_2_3
The paper presents an overview and analysis of the most reliable and at the same time rather simple theoretical models describing liquid nanomeniscus geometry and forces occurring between atomic force microscope (AFM) probe and a real surface. There are experimental results in capillary bridge force rupture measured in air, and interaction force under water buffer obtained over surfaces of different nature. It is shown that the theoretical models quite adequately describe the processes observed experimentally and, in particular, bridge ruptures dynamics at the vertical probe withdraw for different speeds. Discussed here are some methodological peculiarities and nanocapillary force spectroscopy diagnostic capabilities for surface energy mapping, prospects of using of a liquid nanomeniscus in local nanochemistry, nanolithography and nano-electrochemistry of a surface.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.542 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
6.

Strelchuk V. V. 
Ferromagnetism in Co-doped ZnO films grown by molecular beam epitaxy: magnetic, electrical and microstructural studies [Електронний ресурс] / V. V. Strelchuk, V. P. Bryksa, K. A. Avramenko, P. M. Lytvyn, M. Ya. Valakh, V. O. Pashchenko, O. M. Bludov, C. Deparis, C. Morhain, TroncP. TroncP. // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2011. - Vol. 14, № 1. - С. 31-40. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2011_14_1_7
We studied structural, optical and magnetic properties of high-quality 5 and 15 % Co-doped ZnO films grown by plasma-assisted molecular beam epitaxy (MBE) on (0001)-sapphire substrates. Magnetic force microscopy (MFM) and magnetic measurements with a SQUID magnetometer show clear ferromagnetic behavior of the films up to room temperature, while they are antiferromagnetic below approximately 200 K. Temperature dependences of the carrier mobility were determined using Raman line shape analysis of the longitudinal optical phonon-plasmon coupled modes. It has been show that the microscopic mechanism for ferromagnetic ordering is coupling mediated by free election spins of Co atoms. These results bring insight into a subtle interplay between charge carriers and magnetism in MBE-grown Zn1-xCoxO films.
Попередній перегляд:   Завантажити - 515.405 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
7.

Vlasenko N. A. 
Laser oscillation in Cr2+:ZnS waveguide thin-film structures under electrical pumping with impact excitation mechanism [Електронний ресурс] / N. A. Vlasenko, P. F. Oleksenko, M. O. Mukhlyo, P. M. Lytvyn, L. I. Veligura, Z. L. Denisova // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2011. - Vol. 14, № 3. - С. 339-343. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2011_14_3_16
Попередній перегляд:   Завантажити - 228.508 Kb    Зміст випуску     Цитування
8.

Lytvyn P. M. 
Mechanical scanning probe nanolithography: modeling and application [Електронний ресурс] / P. M. Lytvyn, O. S. Lytvyn, O. M. Dyachyns'ka, K. P. Grytsenko, S. Schrader, I. V. Prokopenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2012. - Vol. 15, № 4. - С. 321-327. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2012_15_4_5
Попередній перегляд:   Завантажити - 800.432 Kb    Зміст випуску     Цитування
9.

Fodchuk I. M. 
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions [Електронний ресурс] / I. M. Fodchuk, I. I. Gutsuliak, R. A. Zaplitniy, S. V. Balovsyak, I. P. Yaremiy, O. Yu. Bonchyk, G. V. Savitskiy, I. M. Syvorotka, P. M. Lytvyn // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 3. - С. 246-252. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_3_5
Попередній перегляд:   Завантажити - 867.531 Kb    Зміст випуску     Цитування
10.

Nazarov A. N. 
Graphene layers fabricated from the Ni/a-SiC bilayer precursor [Електронний ресурс] / A. N. Nazarov, A. V. Vasin, S. O. Gordienko, P. M. Lytvyn, V. V. Strelchuk, A. S. Nikolenko, A. S. Hirov, A. V. Rusavsky, V. P. Popov, V. S. Lysenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 4. - С. 332-330. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_4_4
This paper considers a synthesis of graphene flakes on the Ni surface by vacuum long and nitrogen rapid thermal treatment of the "sandwich" amorphous (a) SiC/Ni multilayer deposited on silicon wafer by magnetron sputtering technique. The lateral size of graphene flakes was estimated to be about hundreds of micrometers while the thickness estimated using Raman scattering varied from one to few layers in case of vacuum annealing. Rapid thermal annealing in nitrogen ambient results in formation of multilayer graphene with surface covering up to 80 %. The graphene layers synthesized on Ni during CVD process was used as reference samples. Atomic force microscopy is not able to detect graphene flakes in regime of surface topology examination because of large roughness of Ni surface. Employment of scanning Kelvin probe force microscopy (SKPFM) demonstrates correlation of the surface potential and graphene flakes visible in optical microscopy. Using the KPFM method, potential differences between Ni and graphene were determined.
Попередній перегляд:   Завантажити - 2.071 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
11.

Trunov M. L. 
Light-induced transport in amorphous chalcogenides/gold nanoparticles composites [Електронний ресурс] / M. L. Trunov, P. M. Lytvyn, P. M. Nagy, O. S. Oberemok, M. O. Durcot, A. A. Tarnai, I. V. Prokopenko, V. M. Rubish // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 4. - С. 351-361. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_4_9
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.17 Mb    Зміст випуску     Цитування
12.

Kiselov V. S. 
The growth of weakly coupled graphene sheets from silicon carbide powder [Електронний ресурс] / V. S. Kiselov, P. M. Lytvyn, A. S. Nikolenko, V. V. Strelchuk, Yu. Yu. Stubrov, M. P. Tryus, A. E. Belyaev // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2014. - Vol. 17, № 3. - С. 301-307. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2014_17_3_18
A simple method for production of weakly coupled graphene layers by high-temperature sublimation of polycrystalline SiC is presented. The method allows manufacturing carbon-based composite with a high content of weakly coupled graphene layers in large-scale production. The study of the obtained carbon-based material by means of scanning electron microscopy, Raman spectroscopy and atomic force microscopy detected graphene plates with lateral size of up to tens of micrometers. The obtained graphene sheets are shown to have very high crystal perfection, low concentration of defects and weak interlayer coupling, which depends on the growth conditions. The proposed method of producing graphene-based composites is supposed to be very promising due to its relative simplicity and high output.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.276 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
13.

Nakhodkin N. 
Special joints of grain boundaries in nanosilicon films with equiaxed and fibrous structures [Електронний ресурс] / N. Nakhodkin, N. Kulish, P. Lytvyn, T. Rodionova, A. Sutyagina // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Радіофізика та електроніка. - 2014. - Вип. 1-2. - С. 83-86. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_Rte_2014_1-2_28
За допомогою методів атомної силової мікроскопії досліджено спеціальні стики меж зерен в нанокремнієвих плівках. Показано, що у плівках з рівноосьовою та волокнистою структурою стики відрізняються кількістю та взаємним розташуванням спеціальних меж <$ESIGMA~=~3 sup n> та меж загального типу.
Попередній перегляд:   Завантажити - 198.079 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
14.

Rudko G. Yu. 
Structural and photoluminescence properties of ZnO nanowires [Електронний ресурс] / G. Yu. Rudko, I. V. Dubrovin, A. I. Klimovskaya, E. G. Gule, P. M. Lytvyn, Yu. M. Lytvyn, S. P. Turanska // Ukrainian journal of physics. - 2012. - Vol. 57, № 12. - С. 1239-1243. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2012_57_12_9
Масиви нанодротів ZnO вирощено за механізмом пара - рідина - кристал на кремнієвих підкладках і досліджено за допомогою методів рентгенівської дифрактометрії, сканувальної електронної мікроскопії та атомно-силової мікроскопії. Результати цих досліджень свідчать про те, що діаметри нанодротів варіюються в межах 50 - 300 нм, а їх довжина сягає 40 мкм. Для вирощених нанодротів є характерною інтенсивна фотолюмінесценція, в спектрі якої домінують близькокрайова смуга та одна чи дві (залежно від умов вирощування) дефектні смуги. Співвідношення інтенсивностей цих смуг відображає нестехіометричність матеріалу і залежить від температури випаровування цинку та температури в зоні росту нанодротів.
Попередній перегляд:   Завантажити - 698.409 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
15.

Grytsenko K. P. 
Morphology of sulphur-terminated compound deposits condensed on different substrates in vacuum [Електронний ресурс] / K. P. Grytsenko, P. M. Lytvyn, T. P. Doroshenko, Yu. V. Kolomzarov, J. L. Bricks, V. Kurdyukov, Yu. L. Slominskii, O. I. Tolmachev // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2015. - Vol. 18, № 4. - С. 433-437. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2015_18_4_12
Thin films of new sulphur-terminated organic compounds were deposited by evaporation in vacuum onto the glass, silicone, gold and polytetrafluoroethylene substrates. The influence of compound chemical structure and substrate type on morphology of the condensed solid was studied using atomic force microscopy. The significant difference in morphology of the same dye but deposited on various substrates was found.
Попередній перегляд:   Завантажити - 692.392 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
16.

Bortchagovsky E. G. 
Direct synthesized graphene-like film on SiO2: Mechanical and optical properties [Електронний ресурс] / E. G. Bortchagovsky, A. V. Vasin, P. M. Lytvyn, S. I. Tiagulskyi, A. M. Slobodyan, I. N. Verovsky, V. V. Strelchuk, Yu. Stubrov, A. N. Nazarov // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 4. - С. 328-333. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_4_4
Exploiting CVD technique for carbon deposition from C2H2 + H2 + N2 mixture, a graphene-like film synthesized directly on SiO2 surface of Si2 - Si structure was obtained. The graphene-like film was grown under thin Ni layer that is easy exfoliated from graphene-Si2 - Si structure. Surface of the film was sufficiently smooth and reveals no winkles and holes; it has a good homogeneity and perfect adhesion to SiO2 layer. Studying the micro-Raman spectra showed a graphene-like structure of the film; using atomic force microscopic technique, the thickness of film was determined (0,6 nm). Using spectroscopic ellipsometry and simple Cauchy model enabled us to estimate optical parameters of this graphene-like film.
Попередній перегляд:   Завантажити - 366.825 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
17.

Synhaivska O. I. 
Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods [Електронний ресурс] / O. I. Synhaivska, P. M. Lytvyn, I. P. Yaremiy, A. O. Kotsyubynsky, V. V. Kozub, V. S. Solnstev, I. V. Prokopenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 1. - С. 90-97. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_1_19
In this paper, the features of the microstructure of magnetic domains observed in ferrite-garnet films (FGF) have been presented. The studied FGF with orientation (111) were grown on gallium-gadolinium substrate by using liquid-phase epitaxy. The study of distribution inherent to magnetic domains was carried out using magnetic force microscopy (MFM) with the scanning probe microscope NanoScope IIIa Dimension 3000<191>. In the course of these researches, optimization of the MFM method was carried out to obtain high-quality and correct images of magnetic domains in FGF. Nanorelief and magnetic microstructure of FGF surface were studied, depending on their thickness, on external magnetic field and doses of boron ion implantation. For these objects, it was established that stripe domain structure is characteristic, the period of which depends on the film thickness. The nature of transformation of domain structure depending on thickness is close to that theoretically predictable at low thicknesses (up to 10 <$Emu>m). Nanorelief of film surfaces is virtually unchanged depending on thickness. An external magnetic field with the magnitude 4 mT causes significant changes in domain configuration and allows to visualize heterogeneity of magnetic structure. Ion implantation leads to a slight smoothing of nanorelief films (roughness of 0,2 nm) and to more accurate displaying the magnetic microstructure, which is associated with processes of structural ordering under ionic bombardment.
Попередній перегляд:   Завантажити - 12.777 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
18.

Rudko G. Yu. 
Structural and photoluminescence properties of ZnO nanowires [Електронний ресурс] / G. Yu. Rudko, I. V. Dubrovin, A. I. Klimovskaya, E. G. Gule, P. M. Lytvyn, Yu. M. Lytvyn, S. P. Turanska // Український фізичний журнал. - 2012. - Т. 57, № 12. - С. 1240-1244. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2012_57_12_9
Масиви нанодротів ZnO вирощено за механізмом пара - рідина - кристал на кремнієвих підкладках і досліджено за допомогою методів рентгенівської дифрактометрії, сканувальної електронної мікроскопії та атомно-силової мікроскопії. Результати цих досліджень свідчать про те, що діаметри нанодротів варіюються в межах 50 - 300 нм, а їх довжина сягає 40 мкм. Для вирощених нанодротів є характерною інтенсивна фотолюмінесценція, в спектрі якої домінують близькокрайова смуга та одна чи дві (залежно від умов вирощування) дефектні смуги. Співвідношення інтенсивностей цих смуг відображає нестехіометричність матеріалу і залежить від температури випаровування цинку та температури в зоні росту нанодротів.
Попередній перегляд:   Завантажити - 701.682 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
19.

Ievtushenko A. I. 
The influence of substrate temperature on properties of Cu-Al-O films deposited using the reactive ion beam sputtering method [Електронний ресурс] / A. I. Ievtushenko, M. G. Dusheyko, V. A. Karpyna, O. I. Bykov, P. M. Lytvyn, O. I. Olifan, V. A. Levchenko, A. A. Korchovyi, S. P. Starik, S. V. Tkach, E. F. Kuzmenko, G. V. Lashkarev // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 3. - С. 314-318. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_3_7
For the first time, Cu - Al - O films were grown using the reactive ion beam sputtering at temperatures ranging from 80 to <$E380~symbol Р roman C> in <$E50~symbol Р roman C> increments. Correlations between the properties of as-grown films measured by X-ray diffraction, energy dispersive X-ray spectroscopy, atomic force microscopy, Fourier transform infrared spectrometry and optical transmission measurements have been discussed. It was shown that the increase of substrate temperature caused formation of the CuAlO2 phase. Additional optimization of technological parameters of growth and post-growth temperature annealing are necessary to obtain single-phase CuAlO2 films.
Попередній перегляд:   Завантажити - 386.365 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
20.

Indutnyi I. Z. 
Enhancing sensitivity of SPR sensors using nanostructured Au chips coated with functional plasma polymer nanofilms [Електронний ресурс] / I. Z. Indutnyi, Yu. V. Ushenin, D. Hegemann, M. Vandenbossche, V. I. Myn'ko, P. E. Shepeliavyi, M. V. Lukaniuk, P. M. Lytvyn, R. V. Khrystosenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 3. - С. 362-368. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_3_16
The sensitivity of surface plasmon resonance (SPR) sensors operating in the Kretschmann configuration was investigated using Au SPR chips with a nano-grating surface functionalized via deposition of a-C:H:0 plasma polymer films. The surface of the chips was nanopattemed in order to improve the sensitivity of the sensor, as compared with the sensitivity of standard Au chips with a flat (unstructured) surface. It was found that deposition of the plasma polymer nanofilms neither affected the degree of refractometer sensitivity enhancement, nor the width of the operation range of the environment refractive index (n), in which the enhancement was observed. Such functionalization of the chip surface merely resulted in the shift of the operation range position to smaller values of n in comparison to non-coated chips requiring deposition of stable functional films.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.265 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
...
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського