Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (17)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Mikhailov I$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4
1.

Mikhailov I. F. 
Metal Films as Mass Standard Samples in the Nano-Gram Range [Електронний ресурс] / I. F. Mikhailov, A. A. Baturin, A. I. Mikhailov, Ye. A. Bugaev, S. S. Borisova // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 1. - С. 01NTF17-01NTF17. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_1_19
Попередній перегляд:   Завантажити - 216.507 Kb    Зміст випуску     Цитування
2.

Malykhin S. V. 
Structure and Phase Formation Features of Ti-Zr-Ni Quasicrystalline Films under Heating [Електронний ресурс] / S. V. Malykhin, V. V. Kondratenko, I. А. Kopylets, S. V. Surovitskiy, А. А. Baturin, I. F. Mikhailov, M. V. Reshetnyak, S. S. Borisova, Yu. S. Bogdanov // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 3. - С. 03009-1-03009-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_3_11
Описано особливості вирощування тонких плівок Ti - Zr - Ni за допомогою методу магнетронного розпилення мішеней складу Ti53Zr30Ni18 та Ti41Zr38,3Ni20,7 на підкладки за T = 300 К з наступним відпалом у вакуумі. Вивчено особливості формування фазового складу, структури та термічної стабільності тонких плівок квазікристалів. Встановлено, що плівки у вихідному стані є рентгеноаморфними, або нанокристалічними з розміром областей розсіювання згідно Шерреру близько 1,6 - 1,8 нм незалежно від елементного складу мішені, яка розпилювалась. Ця структура є відносно стабільною до температури 673 K, за якої починається формування квазікристалічної фази. У плівках складу Ti53Zr30Ni18 найбільша кількість квазікристалічної фази, яка характеризується параметром квазікристалічності aq = 0,517 нм, спостерігається за температури відпалу 673 K. Вона доповнюється домішкою W-фази кристала-апроксиманта 1/1. В плівках складу Ti41Zr38,3Ni20,7 оптимальна температура відпалу знаходиться між 823 та 873 K. Квазікристалічна фаза характеризується параметром квазікристалічності aq = 0,5205 нм. Крім того, вперше одержано дані про формування 2/1 кристалічного апроксиманту як фази домішки. За відпалу за температур понад 873 K встановлено розпад фаз квазікристала та апроксиманта на стабільні за високих температур кристалічні фази згідно з діаграмою рівноваги.
Попередній перегляд:   Завантажити - 325.112 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Malykhin S. V. 
Features of the Initial Stage of the Formation of Ti-Zr-Ni Quasicrystalline Thin Films [Електронний ресурс] / S. V. Malykhin, V. V. Kondratenko, I. А. Kopylets, S. V. Surovitskiy, I. G. Shipkova, I. F. Mikhailov, E. N. Zubarev, Yu. S. Bogdanov // Journal of nano- and electronic physics. - 2020. - Vol. 12, no. 4. - С. 04011-1-04011-6. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2020_12_4_13
За допомогою методів рентгенівської дифрактометрії, електронної мікроскопії та растрової електронної мікроскопії досліджено особливості початкової стадії формування квазікристалічної фази в тонких плівках Ti - Zr - Ni. Плівки одержували з використанням методу магнетронного розпилення мішені складу Ti41Zr38,3Ni20,7 (ат. %), осадженням на підкладки за температури T = 300 K і подальшим вакуумним відпалом. Встановлено, що безпосередньо після осадження плівки є рентгено-аморфними, наноструктурованими. Аналіз функцій радіального розподілу для плівок в початковому стані і після годинного вакуумного відпалу надаэ змогу стверджувати, що вже безпосередньо після осадження в ближньому атомному оточенні переважає невпорядкований кластерний стан топологічно близький до ікосаедричного. Зроблено висновок, що атоми розташовані не хаотично, а утворюють "перехідну" структуру з недосконалим порядком за типом трьох оболонок укладання кластера Бергмана з використанням ікосаедрів і додекаедрів. Така структура є "підготовленим" зародком для подальшого формування ікосаедричної фази за нагрівання. Аналіз результатів відпалів надає змогу висловити припущення, що якісний характер переходу від псевдо аморфної фази до квазікристалічної, а також масштаб змін визначаються часом і температурою відпалу, а також товщиною плівки. Чим менше товщина, тим більше загальмовані процеси відпалу. Показано, що відпалом плівок товщиною 6 мкм і більше за температури <$E500~symbol Р roman C> тривалістю понад 28 год можна одержувати однофазні квазікристалічні покриття з параметром квазікристалічності aq близько 0,5245 нм.
Попередній перегляд:   Завантажити - 616.285 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
4.

Mikhailov I. F. 
Application of the Compton Effect to Solve Problems of Condensed Matter Physics [Електронний ресурс] / I. F. Mikhailov, O. A. Baturin, А. І. Mikhailov, S. S. Borisova // Journal of nano- and electronic physics. - 2022. - Vol. 14, no. 1. - С. 01031-1-01031-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2022_14_1_32
Розглянуто перспективи застосування рентгенівських спектральних методів у нових галузях через використання явища розсіювання, як основи для хімічного та фазового аналізу. Теоретично показано, що чутливість методу розсіювання не залежить від структури та якості поверхні зразка і різко зростає зі зменшенням атомного номеру домішки, що аналізується. Проаналізовано чутливість методу під час дослідження багатокомпонентних стандартів стехіометричного складу на основі H, Li, B, C, O і F, та порівняно її з чутливістю традиційних аналітичних методів. Розраховано концентраційну чутливість виявлення вмісту легких домішок у металах і наведено експериментальне підтвердження для систем титан - водень та залізо - вуглець. Вперше метод Комптона узагальнено для аналізу багатокомпонентних систем невідомого складу. Для цього, з використанням підходу [13], введено поняття ефективного атомного номеру за властивістю розсіювання. Показано, що залежність ефективного атомного номеру від параметру х, що віддзеркалює умови зйомки (кут розсіювання та довжину хвилі первинного випромінювання), однозначно визначає багатокомпонентну сполуку. На підставі аналізу чутливості обгрунтовано діапазон застосування методу розсіювання. З боку малих значень параметру x, метод обмежується брегівськими відбиттями, що накладаються на релєєвський пік. За великих значень параметру x, чутливість методу погіршується через велику розбіжність між інтенсивністю когерентного і некогерентного розсіювання. Наведено приклади вирішення аналітичних завдань, при яких використання рентгенофлуоресцентного та дифракційного аналізу або сильно ускладнено, або взагалі неможливо.
Попередній перегляд:   Завантажити - 516.177 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського