Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (2)Автореферати дисертацій (1)Реферативна база даних (17)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>A=Оберемок О$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 11
Представлено документи з 1 до 11
1.

Москаль Д. 
Особливості фотолюмінесценції кремнієвих нанокластерів в оксидній матриці при наявності домішки азоту [Електронний ресурс] / Д. Москаль, В. Мельник, В. Попов, Г. Калістий, І. Хацевич, О. Оберемок, О. Чернух. // Вісник Тернопільського національного технічного університету. - 2009. - Т. 66, № 2. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/tstub_2009_2_23
2.

Бученко В. В. 
Сенсор хвильового фронту для визначення дефектів наноструктурованих поверхонь [Електронний ресурс] / В. В. Бученко, А. О. Голобородько, В. В. Лендєл, О. С. Оберемок // Журнал нано- та електронної фізики. - 2015. - Т. 7, № 3. - С. 03023-1-03023-6. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2015_7_3_25
Наведено порівняння теоретичних розрахунків та експериментальних результатів впливу інтерференційних явищ на визначення параметрів і структури показника заломлення. Показано особливість формування вихідної хвилі в системі з подвійним Фур'є-перетворенням за відбивання світла від поверхні зі структурованими локальними неоднорідностями показника заломлення. Проведено теоретичний аналіз та комп'ютерне моделювання роботи сенсора хвильового фронту щодо виявлення просторового розподілу показника заломлення. Для визначення напрямку зміни показника заломлення запропоновано використати дисперсію фази хвильового фронту.
Попередній перегляд:   Завантажити - 457.482 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Романюк Б. М. 
Вплив імплантації іонів O+, C+ на перерозподіл і електричну активність арсену на границі розділу структур SiO2-Si [Електронний ресурс] / Б. М. Романюк, В. Г. Попов, О. С. Оберемок, В. П. Мельник, С. Г. Волков // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2005. - Вип. 237. - С. 14-18. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2005_237_4
Попередній перегляд:   Завантажити - 310.905 Kb    Зміст випуску     Цитування
4.

Гандзюк В. І. 
Інжекційні ефекти в кремнієвій симетричній n+-n-n+ структурі при живленні в режимі генератора напруги [Електронний ресурс] / В. І. Гандзюк, О. С. Оберемок, С. П. Павлюк // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2014. - Вип. 1. - С. 221-224. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2014_1_46
Показано, що неоднорідний розігрів кремнієвої симетричної n<^>+-n-n<^>+ мікроструктури під час живлення в режимі генератора напруги призводить до формування в ній високоомної області. Проведено розрахунки поля, температури та концентрації у високоомній області структури, показано, що вона являє собою термічний градієнтно-дрейфовий домен з концентрацією носіїв заряду менше за термічно рівноважну. Досліджено динаміку формування та руйнування домену.
Попередній перегляд:   Завантажити - 321.386 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
5.

Гандзюк В. І. 
Вплив польового розігріву на інжекційні ефекти в кремнієвих n+-n-n+ структурах [Електронний ресурс] / В. І. Гандзюк, С. П. Павлюк, О. С. Оберемок // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2014. - Вип. 3. - С. 215-220. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2014_3_43
Розглянуто вплив польового розігріву на інжекційні ефекти в кремнієвих n<^>+-n-n<^>+ структурах. Показано, що за умов виникнення ТГД домену польовий розігрів носіїв заряду не є визначальним.
Попередній перегляд:   Завантажити - 436.561 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
6.

Павлюк С. П. 
Ефект пам’яті в КСДІ структурах [Електронний ресурс] / С. П. Павлюк, О. С. Оберемок, В. М. Телега, В. І. Гандзюк // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2014. - Вип. 4. - С. 277-280. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2014_4_52
Попередній перегляд:   Завантажити - 847.236 Kb    Зміст випуску     Цитування
7.

Романюк Б. М. 
Вплив термічних обробок на час життя нерівноважних носіїв заряду в Cz-Si [Електронний ресурс] / Б. М. Романюк, В. Г. Попов, В. П. Мельник, М. І. Клюй, В. І. Горбулик, О. С. Оберемок // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2000. - Вип. 79. - С. 25-29. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2000_79_8
Попередній перегляд:   Завантажити - 324.55 Kb    Зміст випуску     Цитування
8.

Гамов Д. В. 
Дослідження рекомбінаційних характеристик Cz-кремнію, імплантованого іонами заліза [Електронний ресурс] / Д. В. Гамов, О. І. Гудименко, В. П. Кладько, В. Г. Литовченко, В. П. Мельник, О. С. Оберемок, В. Г. Попов, Ю. О. Поліщук, Б. М. Романюк, В. В. Черненко, В. М. Насєка // Український фізичний журнал. - 2013. - Т. 58, № 9. - С. 883-890. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2013_58_9_13
Попередній перегляд:   Завантажити - 837.936 Kb    Зміст випуску     Цитування
9.

Єфремов О. О. 
Механізми модифікації профілів розподілу домішок при мас-спектрометричному аналізі багатошарових наноструктур [Електронний ресурс] / О. О. Єфремов, В. Г. Литовченко, В. П. Мельник, О. С. Оберемок, В. Г. Попов, Б. М. Романюк // Український фізичний журнал. - 2015. - Т. 60, № 6. - С. 512-521. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2015_60_6_6
Проведено теоретичний аналіз механізмів, які призводять до просторового перерозподілу компонентів твердотільної мішені під дією іонного бомбардування. Виконано моделювання впливу іонно-променевого перемішування (ion-beam mixing), форми кратера розпилення та шорсткості поверхні на результати мас-спектрометричних вимірювань залежно від енергії розпилюючих іонів. Показано, що в діапазоні енергій іонів 200 - 400 еВ вплив згаданих факторів є мінімальним для розпилення багатошарових нанорозмірних періодичних структур Mo/Si, виготовлених за допомогою методу магнетронного напилення шарів молібдену та кремнію. Експериментальні дослідження профілів розподілу домішок і порівняння їх з результатами моделювання надало змогу встановити оптимальні режими мас-спектрометричного аналізу, досягти роздільної здатності по глибині краще 1 нм та одержати профілі розподілу домішок, максимально наближені до реальних.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.18 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
10.

Горічок І. В. 
Технологічні аспекти отримання термоелектричного PbTe [Електронний ресурс] / І. В. Горічок, І. М. Ліщинський, С. І. Мудрий, О. С. Оберемок, Т. О. Семко, І. М. Хацевич, О. М. Матківський, Г. Д. Матеїк, Р. О. Дзумедзей // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2017. - Т. 14, № 3. - С. 53-64. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/seimt_2017_14_3_7
Представлено результати дослідження фазового складу і структурного стану синтезованих за різних технологічних факторів полікристалічних зливків бездомішкового телуриду свинцю та виготовлених на їх основі методом пресування порошку зразків. Проведено вимірювання температурних залежностей питомої електропровідності, коефіцієнта термоерс та коефіцієнта теплопровідності. Встановлено вплив температури відпалу зразків на їх термоелектричні властивості.
Попередній перегляд:   Завантажити - 943.598 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
11.

Голтвянський Ю. В. 
Дослідження процесів формування фотодіодів в InSb при іонній імплантації берилію [Електронний ресурс] / Ю. В. Голтвянський, О. Й. Гудименко, О. В. Дубіковський, О. І. Любченко, О. С. Оберемок, Т. М. Сабов, С. В. Сапон, К. І. Чуніхіна // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2017. - Вып. 52. - С. 140-149. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/ont_2017_52_14
Описано процеси формування діодних структур у монокристалах антимоніду індію. Розглянуто два варіанта конструкції фотодіодних структур: планарний діод та мезаструктура Показано, що вибрані технологічні параметри (доза імплантації берилію, енергія імплантації, режими відпалів) забезпечують формування структур, чутливих до інфрачервоного випромінювання. Запропонована технологія мезаструктур має такі переваги: зворотні струми для планарного діода є значно більшими, діоди з мезаструктурою мають більшу чутливість і значно менші темнові струми.
Попередній перегляд:   Завантажити - 5.969 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського