Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника

Самойлов, А. Н.; Шевченко, И. В.


	Наукова періодика України		Technology audit and production reserves

Самойлов А. Н.
Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника / А. Н. Самойлов, И. В. Шевченко // Технологический аудит и резервы производства. - 2016. - № 3(1). - С. 60-68. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Tatrv_2016_3%281%29__11

Повний текст PDF - 2.251 Mb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Самойлов А.

Шевченко И.

Бібліографічний опис для цитування:

Самойлов А. Н. Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника / А. Н. Самойлов, И. В. Шевченко // Технологический аудит и резервы производства. - 2016. - № 3(1). - С. 60-68. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Tatrv_2016_3(1)__11.

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

Шевченко Ігор Васильович (технічні науки)

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача