|
|
ВА622579
Рыков, Сергей Александрович.
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студ. вузов, обучающ. по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; общ. ред. В. И. Ильин, А. Я. Шик ; Федеральная целевая программа "Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы". - СПб. : Наука, 2001. - 53 с.: рис. - (Серия учебных пособий "Новые разделы физики полупроводников"). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Ильин, В. И. (общ. ред.); Шик, А. Я. (общ. ред.); Федеральная целевая программа "Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы"
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|