Розглянуто питання загальної теорії аграрного права, аграрні правовідносини та аграрне право зарубіжних країн (Франції, США, Англії, Іспанії, ФРН). На основі норм чинного законодавства висвітлено правове становище суб'єктів аграрного права, права власності, виробничо-господарської і фінансово-кредитної діяльності сільськогосподарських товаровиробників та аграрні договірні зобов'язання. Проаналізовано питання про взаємозв'язок і співвідношення тих видів правовідносин, суб'єктами яких є сільськогосподарські товаровиробники. Наведено правові норми, які визначають адміністративні та цивільні правові норми щодо охорони праці, відповідальність за порушення права власності, а також вперше в аграрно-правовій літературі приділено увагу маркетингу, оподаткуванню і банкрутству сільськогосподарських підприємств. Розглянуто питання правового регулювання реалізації сільськогосподарської продукції та юридичного обслуговування сільськогосподарських підприємств.

Індекс рубрикатора НБУВ: Х859(4УКР)11

Рубрики:

Екологічне право окремих країн

Шифр НБУВ: Ж27747 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Раскрыта физическая природа явлений, обуславливающих, с одной стороны, принципиальное ограничение информативности кинематической картины рассеяния, а с другой стороны, радикальное повышение информативности картины динамического рассеяния. Это повышение обусловлено обнаруженной и, главное, очень существенной зависимостью характера влияния дефектов на динамическую картину от условий дифракции, что принципиально не имеет места в кинематическом случае. Единая физическая интерпретация на этой основе всего круга явлений и эффектов, обуславливающих различную информативность динамической и кинематической картин рассеяния, позволила разработать новые принципы высокоинформативной неразрушающей диагностики структурного совершенства кристаллических систем, т.е. основы диффузно-динамической комбинированной дифрактометрии, суть которой состоит в комбинированной обработке результатов измерений картины рассеяния при различных условиях динамической дифракции для реализации многопараметрической диагностики. Отмечено, что указанные результаты удалось получить только благодаря использованию в динамической теории метода флуктуационных волн, разработанного М. А. Кривоглазом при построении им кинематической теории рассеяния, и созданных им основ классификации дефектов по характеру их влияния на картину рассеяния.

В случае сильного изгиба построена динамическая теория дифракции рентгеновских лучей для брэгговской и квазидиффузной компонент отражательной способности тороидально изогнутого монокристалла, содержащего однородно распределенные микродефекты. Получены аналитические выражения для брэгговской и квазидиффузной составляющих, отражательной способности кристалла. Данная задача решена с применением наиболее сложного варианта метода перевала для случая слияния двух точек перевала.

Изложена обобщенная динамическая теория брэгговского и диффузного рассеяний рентгеновских лучей в кристаллах с дефектами нескольких типов. Рассмотрены выражения для дифференциальной и интегральной интенсивностей рассеяния, связывающие их с характеристиками дефектов в кристаллах при дифракции, как на отражение, так и на прохождение. Описаны экстинкционные эффекты за счет рассеяния на дефектах без ограничений на их размеры в когерентном и диффузном рассеяниях при малых и больших эффектах диффузной экстинкции для дифференциального и интегральных коэффициентов и факторов экстинкции за счет многократности рассеяния на флуктуационных отклонениях от периодичности решеток кристаллов. На основании построенной динамической теории, при ее сравнении с кинематической, создана новая физическая концепция, которая позволила раскрыть и детально проанализировать физическую природу обнаруженных явлений, обуславливающих, с одной стороны, принципиальное ограничение информативности кинематической картины рассеяния, а с другой стороны, радикальное повышение информативности картины динамического рассеяния. Показано, что это повышение информативности обусловлено обнаруженным явлением очень существенной зависимости от условий дифракции характера влияния дефектов на динамическую картину, что не имеет места принципиально в кинематическом случае. Показаны обусловленные этим явлением и рядом следствий из него уникальные диагностические возможности созданной интегральной диффузнодинамической комбинированной дифрактометрии (ИДДКД). В частности, показаны качественно новые возможности реализации впервые многопараметрической диагностики материалов и изделий

нанотехнологий. При этом на основании построенной теории созданы модели высокоинформативной ИДДКД для анализа скачков интенсивности вблизи К-края поглощения и отклонений от закона Фриделя, а также их деформационных и толщинных зависимостей. Проведена экспериментальная апробация созданных моделей.

Індекс рубрикатора НБУВ: Ж620 + В372.212.1

Рубрики:

Нанотехнології

Рентгенівський метод (метод кутів Брегга)

Шифр НБУВ: Ж23022 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 

Уникальная чувствительность зависимостей картин многократного брэгговского и диффузного рассеяния от различных условий дифракции к характеристикам дефектов была обнаружена в [1]. Комбинированная обработка необходимых наборов этих зависимостей обеспечивает исключительную информативность диагностики. Показано, что в эксперименте в различных условиях дифракции это проявляется как многообразность динамической картины рассеяния при фиксированной дефектной структуре кристалла. При этом указанная многообразность оказывается индивидуальной для каждого типа дефектов в кристаллах. В результате появляется возможность рассмотрения рентгеновских или нейтронных дифракционных измерений для одного образца с несколькими типами дефектов, полученных в разных условиях динамической дифракции, в качестве независимых экспериментальных данных, что позволяет однозначно решать многопараметрическую обратную задачу рассеяния - восстанавливать параметры одновременно нескольких типов дефектов, присутствующих в кристаллах, по нескольким картинам дифракции. Решение указанной многопараметрической задачи для систем со сложной дефектной структурой путем совместной обработки необходимого набора независимых экспериментальных данных положено в основу нового поколения кристаллографии - многопараметрической диффузно-динамической комбинированной дифрактометрии, которая обосновывается и развивается.

Создана и экспериментально апробирована модель деформационной зависимости скачка интегральной интенсивности рассеяния (ИИР) в области K-края поглощения. Исследована природа и разработаны принципы расширения возможностей определения параметров хаотически распределенных дефектов нескольких типов за счет использования излучений вблизи K-края поглощения с целью обеспечения новых возможностей измерений в различных условиях дифракции, в частности, комбинирования приближений тонкого и толстого кристаллов при исследованиях деформационных зависимостей скачка ИИР на K-крае поглощения.

Установлено влияние дефектов, хаотически распределенных в объеме кристалла (ХРД), на величину отношения интегральных интенсивностей hkl и <$E hkl Bar> лауэ-отражений <$E roman Y~=~I sup hkl "/" I sup hkl Bar>. Показана возможность проведения диагностики параметров ХРД по отклонению Y для кристалла с ХРД от <$E roman Y sub perf> идеального кристалла и его изменению с толщиной кристалла, при использовании излучения с длинами волн как ниже, так и выше K-края поглощения. Аналогично, для кристалла с ХРД, вследствие вклада диффузной компоненты рассеяния, величина параметра <$E roman Y sub s> для скачка интенсивностей вблизи K-края поглощения уменьшается, и именно по степени этого уменьшения и ее зависимости от толщины кристалла также можно определять характеристики ХРД.

Проанализировано отражение рентгеновских лучей от периодических латеральных поверхностей, характеризующихся крупномасштабным одномерным профилем и мелкомасштабными шероховатостями. В приближении Кирхгоффа, когда крупномасштабные неровности поверхности представляются локально плоскими участками, получены аналитические выражения для сечения когерентного рассеяния. Для модельных профилей получены зависимости интенсивности отражения от угла наблюдения и отражательной способности для зеркального и незеркального пиков.

Показан значительный вклад в полную интегральную интенсивность (ПИИ) монокристаллов интерференционного слагаемого, обусловленного взаимодействием между вкладами в ПИИ от динамически рассеивающего объема кристалла и от кинематически рассеивающего слоя. Учитывающая указанную интерференцию теоретическая модель апробирована для определения параметров нарушенных слоев на поверхности монокристаллических пластин Si после различных технологических обработок.