Разработаны оптоэлектронные устройства с применением различных линз для использования контрольно-измерительной техники в качестве параметрического измерительного преобразования неэлектрических величин таких, как плотность, влажность, координаты движущихся объектов, цвета, шероховатость, концентрация, уровень жидкости. Применение этих линз открывает широкие возможности в разработке миниатюрных измерительных устройств для неразрушающего контроля различных физических параметров.

Для определения качественных параметров металлических поверхностей предложен оптоэлектронный метод, основанный на измерении светового потока, отраженного от поверхности контролируемого объекта, и его сравнении с аналогичной характеристикой эталона. Рассмотрены два принципиальных схемотехнических решения.