Рассмотрены методы фиксации адгезивных мостовидных протезов (АМП), существующих на сегодняшний день, проанализированы положительные и отрицательные стороны их применения. Предложен пример возможного решения проблемы фиксации с помощью гальваностегии на поверхность накладок АМП частиц различной формы.

Досліджено вплив виникаючого функціонального шару на монокристалі вольфраму на фізико-механічні властивості його поверхні на наномасштабному рівні. Показано, що функціональний шар, що виникає за п'ять днів, має більш гладку поверхню та більш високі фізико-механічні властивості, ніж сам монокристал вольфраму.

Представлен комбинированный метод расчета пьезокерамического датчика силы, используемого при наноиндентировании в методах сканирующей зондовой микроскопии. Определены основные расчетные величины, построены их распределения, а также оптимальный метод производства пьезокерамического датчика силы, а именно шликерное литье.

Рассмотрена возможность использования фрактального анализа для обработки трехмерных изображений, которые получены методом сканирующей туннельной микроскопии, поверхности пленки молибдена, нанесенной плазменным методом. Для фрактального анализа используются методы построения поля фрактальной размерности, а также селективных изображений. Для создания поля фрактальной размерности разработано специальное программное обеспечение, которое позволяет выделять характерные кластеры фрактальной размерности.

Наведено результати досліджень ультратонкої плівки міді за допомогою методу сканувальної тунельної мікроскопії (СТМ) з напівпровідниковим алмазним вістрям. Експериментальні дані порівняно з аналітичними даними, які одержані на основі розробленої фізико-математичної моделі формування рельєфу поверхні під впливом напружено-деформованого стану. Розбіжність між експериментальними даними і моделлю складає лише <$E symbol Ы~0,5> % в латеральному напрямку і <$E symbol Ы~3> % в напрямку осі z.

Проаналізовано існуючі методи мікроскопії та спектроскопії з метою виявлення їх інформативної складової. Розроблено відповідні оцінні моделі формування зображення одержаного на сканувальному тунельному мікроскопі (СТМ-зображення) як сукупності складного сигналу для пари поверхня зразка - алмазне вістря. Атестовано сканувальний тунельний мікроскоп оснащений вістрям з напівпровідникових алмазів легованих бором на зразках з різним рівнем провідності: моно- та полікристалічні матеріали, покриття. Досліджено поверхневий шар зразків наноструктурованих вуглецьвмісних матеріалів як елементів наноелектронних приладів та інструментів підвищеної міцності, методом сканувальної тунельної мікроскопії.

Розглянуто проблеми формування ультратонких багатошарових графенових покриттів. Визначено природу виникнення нерівностей напівсферичної форми, що нашою дослідницькою групою пов'язується з тиском вуглецевого газу. Для вирішення поставленого завдання розроблено фізико-математичну модель формування рельєфу поверхні під впливом тиску вуглецевого газу. Розроблена методика дозволяє на основі деформаційної теорії визначити максимальний розмір півсфери залежно від матеріалу підкладки. Представлено результати дослідження графенового покриття методом скануючої тунельної мікроскопії (СТМ) з напівпровідниковим алмазним вістрям. Для обробки експериментальних даних використовувався фрактальний аналіз горизонтальних перерізів топограми. На поверхні графенових острівців були знайдені сферичні утворення діаметром від 20 до 32нм. Експериментальні дані порівнювалися з аналітичними даними, одержаними на підставі розробленої моделі. Розбіжність між експериментальними даними і моделлю складають 3 %.