 Книжкові видання та компакт-диски  Журнали та продовжувані видання  Автореферати дисертацій  Реферативна база даних  Наукова періодика України  Тематичний навігатор  Авторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>A=Yudanov N$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
|
| 1. |
Yudanov N. A. Effect of bias fields on off-diagonal magnetoimpedance (MI) sensor performance / N. A. Yudanov, A. A. Rudyonok, L. V. Panina, A. V. Kolesnikov, A. T. Morchenko, V. G. Kostishyn // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2014. - 6, № 3. - С. 03046-1-03046-4. - Бібліогр.: 10 назв. - англ.This paper investigates the performance of off-diagonal magnetoimpedance in Co-based amorphous wire subjected to dc bias fields: circular and orthogonal (with respect to the wire axis). Typically it is assumed that the wire impedance is insensitive to the orthogonal field so the wire element can be used to construct 3D sensors. Our results demonstrated the possibility of large impedance change due to this field, in the range of 10 mV/Oe. The dc current in a wire generating a circular field results in improved sensitivity due to elimination of the domain structure and smoothing the effect of the anisotropy deviations. Індекс рубрикатора НБУВ: З965-044.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України
| | 2. |
Morchenko A. T. Magneto-ellipsometry investigations of multilayer nanofilms of Fe and Co / A. T. Morchenko, L. V. Panina, V. G. Kostishyn, N. A. Yudanov, S. P. Kurochka, A. A. Sergienko, R. D. Piliposyan, N. N. Krupa // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2013. - 5, 4 (ч. 1). - С. 04002-1-04002-4. - Бібліогр.: 19 назв. - англ.Spectral ellipsometry technique is demonstrated to be a useful tool for the investigation of optical and magneto-optical parameters of magnetic heterostructures. Ellipsometry parameters psi, DELTA were measured in the range of 350 - 1000 nm. Solving the inverse problem by a regression method the refractive index and thickness of the layers were deduced. Magneto-optical spectra were detected in the configuration of equatorial Kerr effect which is fully compatible with the ellipsometry measurements. Spectroscopic ellipsometry method of magnetic structure characterisation can be used for in situ monitoring of magnetic film growth in various processes such as magnetron sputtering, electron beam evaporation and ion beam sputtering. Індекс рубрикатора НБУВ: К222.026 + К232.302.6 + В371.236
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України
| | 3. |
Yudanov N. A. High sensitivity magnetic sensors based on off-diagonal magnetoimpedance in amorphous FeCoSiB wires / N. A. Yudanov, L. V. Panina, A. T. Morchenko, V. G. Kostishyn, P. A. Ryapolov // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2013. - 5, 4 (ч. 1). - С. 04004-1-04004-4. - Бібліогр.: 20 назв. - англ.The magnetoimpedance (MI) effect has a potential for the development of high performance magnetic sensors. For sensor applications, off-diagonal configuration is preferable when the MI element is excited by ac current and the output is detected from the coil. In the present work, the off-diagonal sensor design was advanced by utilising a complex waveform excitation produced by a microcontroller and applied to a multiple wire MI element. For optimised excitation with a waveform close to a positive half sine form and characteristic frequency of 8 MHz the field resolution of about 60 mV/Oe was achieved. The pulse excitation does not require an additional bias since it includes controllable low frequency components. The concept of microcontroller driven sensor element could be attractive for the development of intellectual sensors. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.224 + З965-044.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України
|
|
|