Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (3) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Babentsov V$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
| 1. | 
Babentsov V. N. Dislocation emission caused by different types of nanoscale deformation defects in CdTe [Електронний ресурс] / V. N. Babentsov, V. A. Boyko, S. G. Gasan-zade, G. A. Shepelskii, S. V. Stariy // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2014. - Vol. 17, № 1. - С. 29-33. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2014_17_1_8 Dislocation-related defects induced by dislocation motion in p-CdTe were studied. Generation of "fresh" dislocations from the indented point of the CdTe (100), (110), and (111) surfaces at room temperatures was visualized by chemical etching and low temperature photoluminescence in a mapping regime. The crystallographic orientation of the dislocation rosettes of macroscopic plastic deformation lines was analyzed on the (100), (110), and (111) surfaces. | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ інформаційно-комунікаційних технологій |
 Пам`ятка користувача |