Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (1) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>AT=Nepijko Investigation of nanostructure phase$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
| 1. | 
Nepijko S. A. Investigation of Nanostructure Phase Composition and Field Emission Properties in the Ge/Si(100) System [Електронний ресурс] / S. A. Nepijko, A. A. Sapozhnik, A. G. Naumovets, Yu. N. Kozyrev, M. Klimenkov, S. I. Protsenko, L. V. Odnodvorets, I. Yu. Protsenko // Журнал нано- та електронної фізики. - 2016. - Т. 8, № 4(2). - С. 04067-1-04067-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2016_8_4(2)__18 We analyzed the Ge/Si(100) phase composition based on existing literature data and results obtained with high-resolution electron microscopy method. The research confirms formation of solid solutions Ge(Si) in the Ge film and the Si(Ge) in the Si (100) substrate, which are separated by a thin pseudomorphic layer. This conclusion can correctly interpret the phase composition of the heterostructure based on Ge and Si. An array of tips developing on the interface with the tip density of the order 10<^>14 | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ інформаційно-комунікаційних технологій |
 Пам`ятка користувача |