Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000003783<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Остафійчук Б. К. Вплив вторинних процесів та ефекту кратера на роздільну здатність методу вторинної іонної мас-спектрометрії / Б. К. Остафійчук, В. М. Ткачук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 10. - С. 10-14. - Бібліогр.: 11 назв. - укp.Числовим моделюванням процесів розпилення проведено аналіз спотворення глибинних профілів концентрації елементів під час вторинної іонної мас-спектрометрії, викликаного аналізуючим пучком. Отримані результати корелюють з відповідними експериментальними даними. Ключ. слова: вторинна іонна мас-спектрометрія, метод Монте-Карло, кратер розпилення, роздільна здатність, профіль концентрації Індекс рубрикатора НБУВ: В381.566
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|