Досліджено грубоплівкові тестові резистори розміром 1 times1 мм. Проаналізовано вплив серії імпульсів електричного струму на зміни опору зразків. Виявлено ефекти стомлення досліджуваних зразків, що підтверджується мікроскоповими світлинами, а також зростання співчинника шуму. Припущено, що ефекти стомлення в грубих резистивних шарах пов'язані з акумулюванням мікротріщин всередині зразка.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"