The problems of the modern technology of electron beam processing of substrates from an optical glass are discussed. The ellipsometrical method is applied to research the influence of electron beam processing. Using a mathematical processor MATHCAD allows carrying out the necessary calculations to interpret ellipsometrical measurements. The information about optical properties of the surface layers of substrates, from optical glasses K-8 and TF-5 after electron beam processing was received on the basis of ellepsometrical researches. In thin surfaces layers of these substrates, insignificant physico-chemical transformations take place, which are reflected in their operational properties.

• Поздєєв Сергій Валерійович (технічні науки)
• Дубровська Галина Миколаївна (мистецтвознавство)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"