Розглянуто застосування методу вторинних джерел для аналізу інтегральних характеристик пристрою, побудованого з використанням постійних магнітів циліндричної форми і розташованого у надпровідному екрані. Розрахунок поля в кусково-однорідному середовищі замінено розрахунком розподілу додаткових джерел і, далі, - розрахунком еквівалентного поля. Прилад призначено для реєстрації малих зміщень. Наведено результати числового моделювання.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"