Запропоновано один з шляхів отримання додаткової інформації про неруйнівний контроль за якістю зразка, матеріалів і готових виробів. Додаткова інформація дозволяє попередити найбільш суттєві похибки й отримати недоступні раніше характеристики. Як приклад розглянуто можливість виміру характеристик двошарової діелектричної структури коаксіальним ємнісним датчиком.

Представлен один из вариантов получения дополнительной информации о неразрушающем контроле за качеством образца, материалов и готовых изделий. Дополнительная информация позволяет исключить наиболее существенные погрешности и определить недоступные ранее характеристики. В качестве примера рассмотрена возможность измерения характеристик двухслойной диэлектрической структуры коаксиальным емкостным датчиком.

The most available approach to the additional information derivation as the transmitter responses to a sample position modification is presented. The additional information allows to eliminate the most essential errors and define performance inaccessible before. The possibility to measure performances of two-layer dielectric structure with a coaxial capacitive transmitter is considered an example.

• Панченко Олександр Юрійович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"