РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000024959<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Булавенко С. Ю. 
СТМ-зображення залишкових атомів на поверхні Si(111)7 times 7 та можливість дослідження атомів на дні кутових ям / С. Ю. Булавенко, М. Л. Зосім, П. В. Мельник, М. Г. Находкін // Укр. фіз. журн. - 1998. - 43, № 11. - С. 1465-1468. - Бібліогр.: 8 назв. - укp.

Розглянуто застосування спеціальних вістер для дослідження поверхні Si(111)7 times 7 і розширення можливостей скануючих тунельних мікроскопії (СТМ) та спектроскопії (СТС). Створено спеціальні вістря, які дають зображення залишкових атомів вищими та зображення адатомів на 0,4 - 1 ангстрем. Вперше спостерігалося зображення атомів на дні кутових ям на СТМ-зображеннях, отриманих за допомогою спеціального вістря.


Ключ. слова:
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.15

Рубрики:
 Електронна мікроскопія 

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського