РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000025233<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Сидоренко С. И. Структурные превращения в тонких пленках системы Cr - Si / С. И. Сидоренко, Ю. Н. Макогон, В. А. Мохорт, А. А. Дзярук, О. В. Зеленин // Металлофизика и новейшие технологии. - 1999. - 21, № 2. - С. 52-56. - Библиогр.: 6 назв. - рус. Вивчались особливості структурних перетворень тонких плівок системи хром-кремній при термічній обробці методом когерентного оптичного фур'є-аналізу. Досліджено особливості морфології структури в вихідному стані та при відпалах, а також закономірності формування силіцидних фаз в тонкоплівковій системі Cr-Si. Встановлено, що процеси силіцидоутворення супроводжуються лінійним зростанням середніх розмірів структурних неоднорідностей, а також складними морфологічними змінами структури. Ключ. слова: фурье-анализ, тонкая пленка, силицид, аморфная фаза, структурные неоднородности Індекс рубрикатора НБУВ: В378.26 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського