РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000030719<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Tagaev M. B. 
Effect of Ultrasonic Treatment of Silicon Impatt Diodes, Power Schottky Diodes and Zener Diodes on their Electrical Characteristics = Вплив ультразвукової обробки кремнієвих лавинно-пролітних діодів, силових діодів Шотткі та стабілітронів на їх електричні характеристики / M. B. Tagaev // Укр. фіз. журн. - 2000. - 45, № 3. - С. 364-367. - Библиогр.: 13 назв. - англ.

Було проведено ультразвукову обробку корпусних кремнієвих лавинно-пролітних діодів та силових діодів Шотткі. Вона суттєво зменшила зворотний струм діодів та збільшила стабільність вольт-амперних характеристик. Отримані результати свідчать про те, що ультразвукова обробка за кімнатної температури викликала істотну перебудову домішково-дефектної структури p - n-переходів у досліджених діодах. Ідеальний діод Шотті реалізується в кремнієвому p - n-переході внаслідок заміни генераційно-рекомбінаційного механізму струму на дифузійний. З метою порівняння було також досліджено кремнієві сплавні стабілітрони, які зазнали ультразвукової обробки.


Індекс рубрикатора НБУВ: З852.24

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського