Kraitchinskii A. M. Primary Ragiation Defects in Silicon. Creation, Annihilation, Dissociation, Getters = Первинні радіаційні дефекти в кремнії. Утворення, анігіляція, дисоціація, стоки / A. M. Kraitchinskii, V. B. Neimash, I. S. Rogutskii, L. I. Shpinar // Укр. фіз. журн. - 1999. - 44, № 1-2. - С. 259-262. - Библиогр.: 10 назв. - укp.Досліджено процеси утворення, анігіляції, дисоціації первинних радіаційних дефектів в кремнії та можливий вплив неконтрольованих стоків для вакансій міжвузловинних атомів на величину ефективності утворення радіаційних дефектів (ЕУД). Встановлено, що існує єдина порогова енергія для утворення пар Френкеля, яка дорівнює (12,5 +- 0,5) еВ. Показано, що вплив неконтрольованих стоків для первинних дефектів не визначає величину ефективності утворення вторинних радіаційних дефектів. Величина ЕУД контролюється процесами анігіляцїї чи дисоціації первинних дефектів - пар Френкеля. Отримано формулу для залежності ЕУД від температури та концентрації носіїв заряду. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.227
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|